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一种发光防伪元件及其检测方法和检测系统
| 专利名称： | 一种发光防伪元件及其检测方法和检测系统 |
| 摘要： | 本发明提供一种发光防伪元件及其检测方法和检测系统。该发光防伪元件具有如下的发光特性：发光防伪元件受到第一激发光照射，并在去除第一激发光后，进一步受到第二激发光照射时，产生肉眼可见的第二发射光；发光防伪元件事先未受到第一激发光照射，直接受到第二激发光照射时，产生肉眼不可见的第三发射光；其中，第二激发光的波长大于第一激发光的波长，第二激发光的波长大于第二发射光的波长。由于本发明所提供的发光防伪元件具有上述独特的发光效果，因此具有检测方便和隐蔽性高的特点。本发明还提供了针对上述发光防伪元件的检测方法及检测系统。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国印钞造币总公司;中国人民银行印制科学技术研究所 |
| 发明人： | 麻宝成;张晓明;唐士立;邬立勇;陈国栋;辛小温;周树荣;朱强 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810350741.0 |
| 公开号： | CN108956549A |
| 代理机构： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 |
| 代理人： | 刘会景;黄健 |
| 分类号： | G01N21/63(2006.01)I;C09D11/50(2014.01)I;G;C;G01;C09;G01N;C09D;G01N21;C09D11;G01N21/63;C09D11/50 |
| 申请人地址： | 100044 北京市西城区西直门外大街甲143号 |
| 主权项： | 1.一种发光防伪元件，其特征在于，具有如下的发光特性：所述发光防伪元件受到第一激发光照射，并在去除第一激发光后，进一步受到第二激发光照射时，产生肉眼可见的第二发射光；所述发光防伪元件事先未受到第一激发光照射，直接受到第二激发光照射时，产生肉眼不可见的第三发射光；其中，所述第一激发光的波长小于第二激发光的波长，所述第二激发光的波长大于第二发射光的波长。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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