专利名称: |
红外发光元件的缺陷检测方法和装置 |
摘要: |
本申请提出一种红外发光元件的缺陷检测方法和装置,其中,方法包括:拍摄红外发光元件在发光时的红外图像;在红外图像中确定包含红外发光元件的目标图像区域;提取目标图像区域的图像特征,并根据图像特征检测红外发光元件的缺陷。由此,解决了现有技术中红外发光元件设置在壳体的盖板下,难以由肉眼发现发光缺陷的技术问题,实现了对红外发光元件的自动检测,且可以检测多元化的缺陷,检测成本小,效率高。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
重庆;50 |
申请人: |
OPPO(重庆)智能科技有限公司 |
发明人: |
黄友林 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-08-20T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-22T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910770254.4 |
公开号: |
CN110487803A |
代理机构: |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
王艳斌 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
401120 重庆市渝北区玉峰山镇玉龙大道188号 |
主权项: |
1.一种红外发光元件的缺陷检测方法,其特征在于,所述红外发光元件收容于移动终端的壳体内,所述红外发光元件上方设置有盖板,所述盖板设置在所述壳体上,所述方法包括以下步骤: 拍摄红外发光元件在发光时的红外图像; 在所述红外图像中确定包含所述红外发光元件的目标图像区域; 提取所述目标图像区域的图像特征,并根据所述图像特征检测所述红外发光元件的缺陷。 2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述拍摄红外发光元件在发光时的红外图像,包括: 向所述移动终端发送缺陷检测指令,以使所述移动终端在接收到所述缺陷检测指令后开启所述红外发光元件; 开启红外相机拍摄所述红外发光元件在发光时的红外图像。 3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述红外图像中确定包含所述红外发光元件的目标图像区域,包括: 检测所述红外图像中是否包含所述红外发光元件的轮廓; 若包含所述轮廓,则确定所述轮廓及所述轮廓内的图像区域为所述目标图像区域; 若不包含所述轮廓,则获取所述盖板所在区域并将所述盖板所在区域作为所述目标图像区域。 4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,提取所述目标图像区域的图像特征,并根据所述图像特征检测所述红外发光元件的缺陷,包括: 提取所述目标图像区域的彩色像素值的平均值; 计算预设均值与所述平均值的均值差值; 根据所述均值差值识别所述红外发光元件的缺陷。 5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,提取所述目标图像区域的图像特征,并根据所述图像特征检测所述红外发光元件的缺陷,包括: 提取所述目标图像区域的彩色像素的数量; 计算预设数量与所述平均数量的数量差值; 根据所述数量差值识别所述红外发光元件的缺陷。 6.一种红外发光元件的缺陷检测装置,其特征在于,所述红外发光元件收容于移动终端的壳体内,所述红外发光元件上方设置有盖板,所述盖板设置在所述壳体上,所述装置包括: 拍摄模块,用于拍摄红外发光元件在发光时的红外图像; 确定模块,用于在所述红外图像中确定包含所述红外发光元件的目标图像区域; 检测模块,用于提取所述目标图像区域的图像特征,并根据所述图像特征检测所述红外发光元件的缺陷。 7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述确定模块,包括: 检测单元,用于检测所述红外图像中是否包含所述红外发光元件的轮廓; 确定单元,用于在包含所述轮廓时,确定所述轮廓及所述轮廓内的图像区域为所述目标图像区域; 所述确定单元,还用于在不包含所述轮廓时,获取所述盖板所在区域并将所述盖板所在区域作为所述目标图像区域。 8.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述检测模块,包括: 第一提取单元,用于提取所述目标图像区域的彩色像素值的平均值; 第一计算单元,用于计算预设均值与所述平均值的均值差值; 第一识别单元,用于根据所述均值差值识别所述红外发光元件的缺陷。 9.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述检测模块,包括: 第二提取单元,用于提取所述目标图像区域的彩色像素的数量; 第二计算单元,用于计算预设数量与所述平均数量的数量差值; 第二识别单元,用于根据所述数量差值识别所述红外发光元件的缺陷。 10.一种移动终端,其特征在于,包括:壳体,收容于所述壳体的红外发光元件存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述红外发光元件上方设置有盖板,所述盖板设置在所述壳体上,所述处理器执行所述计算机程序时,实现如权利要求1-5任一所述的红外发光元件的缺陷检测方法。 11.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任一所述的红外发光元件的缺陷检测方法。 |
所属类别: |
发明专利 |