| 专利名称： |
基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法 |
| 摘要： |
本发明涉及一种基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法，该方法包括下述步骤：计算得到数字微镜列位置与标准波长间的基本函数关系式；计算拟合误差并将其存到“波长误差”Column中的对应位置；针对待测样品，用户选择要测量的预检荧光波长，利用“波长误差”Column中存储的波长误差对预检荧光波长进行校正得到已校准波长，带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列，从而得到待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。带入步骤二中的基本函数关系式中反算出数字微镜应翻转的列位置，从而测量待测样品的测量波长，获得准确荧光强度值。利用本发明能够准确测量待测样品波长位置的荧光强度信息。 |
| 专利类型： |
发明专利 |
| 国家地区组织代码： |
吉林;22 |
| 申请人： |
吉林大学 |
| 发明人： |
田地;王宏霞;张雅茹;李春生;陶琛;刘可 |
| 专利状态： |
有效 |
| 发布日期： |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： |
CN201810477183.4 |
| 公开号： |
CN108956554A |
| 代理机构： |
长春吉大专利代理有限责任公司 22201 |
| 代理人： |
王淑秋 |
| 分类号： |
G01N21/64(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64;G01N21/27 |
| 申请人地址： |
130012 吉林省长春市前进大街2699号 |
| 主权项： |
1.一种基于数字微镜阵列的原子荧光光谱仪的波长校准方法，其特征在于包括下述步骤：步骤一、点亮荧光光谱仪中一个或多个光源进行光谱检测得到光源激发谱图；这些光源发射的波长为“标准波长”Table中的已知的波长，选取其中的n个光源激发波长![]() 作为校准波长，将其存到“已校准波长”Table中；对得到的谱图寻峰得到n个校准波长![]() 对应的数字微镜列位置L1、L2...、Li...Ln；步骤二、由步骤一得到n组数据![]() 进行多项式拟合计算，得到数字微镜列位置与标准波长间的基本函数关系式λS＝f(L)；步骤三、将步骤二中得到的数字微镜列位置L1、L2...、Li...Ln依次代入基本函数关系式λS＝f(L)中，计算得到n个拟合波长![]() 用n个校准波长分别减去对应的拟合波长得到n个拟合误差![]() 将n个拟合误差作为波长误差存到“波长误差”Column中的对应位置；步骤四、将步骤一中选取的n个校准波长![]() 作为横坐标，步骤三中计算得到的n个拟合误差![]() 作为纵坐标，利用插值算法得到标准波长与拟合误差之间的关系式ΔλF＝f(λS)，再将插值算法未用到的N‑n个标准波长代入到关系式ΔλF＝f(λS)中，得到新增加的N‑n个拟合误差，将此N‑n个拟合误差也作为波长误差保存到“波长误差”Column中；步骤五、针对待测样品，选择要测量的m个预检荧光波长![]() ![]() 同时从“已校准波长”Table中调取n个校准波长与m个预检荧光波长![]() 对比；若m个预检荧光波长均在n个校准波长中有对应，则进行步骤六；若m个预检荧光波长中有t个没有对应的校准波长，则这t个预检荧光波长有可能出现插值误差，选择是否对这t个有插值误差的预检荧光波长进行插值误差校准，若需要校准，则进行步骤七，否则进行步骤六；步骤六、进行待测样品m个预检荧光波长测量时，从“波长误差”Column中调取m个预检荧光波长对应的拟合误差，用m个预检荧光波长减去对应的拟合误差，得到m个已校准波长，带入步骤二中的基本函数关系式λS＝f(L)中反算出数字微镜应翻转的列，从而测量待测样品的m个测量波长λM1、λM2…λMi…λMm，获得准确荧光强度值；步骤七、用没有对应校准波长的t个预检荧光波长λsti，i＝1、2…t，分别减去“波长误差”Column中对应的t个拟合误差ΔλFti,i＝1、2...t，得到t个预校准波长；选择单峰波长校准模式，将t个预校准波长分别带入步骤三中的基本函数关系式λS＝f(L)中反算得到对应的数字微镜列位置，利用此位置控制数字微镜翻转并采集数据，绘制谱图，利用寻峰算法对谱图进行寻峰，得到t个数字微镜寻峰位置并将其带入基本函数关系式λS＝f(L)中计算出对应的t个校准拟合波长，用t个预校准波长分别减去t个校准拟合波长，得到t个插值误差ΔλI1、ΔλI2…ΔλIi…ΔλIt；将t个插值误差分别与对应的t个拟合误差ΔλFti的和作为波长误差存入“波长误差”Column中对应位置，且将t个预检荧光波长值增加至“已校准波长”Table中；进行待测样品m个荧光波长测量时，从“波长误差”Column中调取m个波长误差，用m个荧光波长分别减去对应的波长误差，得到m个已校准波长，带入步骤二中的基本函数关系式λS＝f(L)中反算出数字微镜应翻转的列位置，从而测量待测样品的m个测量波长λM1、λM2…λMi…λMm，获得准确荧光强度值。 |
| 所属类别： |
发明专利 |
