专利名称: |
一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构 |
摘要: |
本发明涉及一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构,所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构包括第一驱动机构和第二驱动机构,所述第一驱动机构与所述第二驱动机构连接,所述第一驱动机构驱动所述第二驱动机构沿方向X运动,所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构还包括检测平台,所述检测平台包括壳体、半透明导光板和光源,所述壳体上部设置有透光窗,所述壳体的底部与所述第二驱动机构连接,所述第二驱动机构驱动所述壳体沿方向Y运动,所述光源安装于所述壳体的内部,所述半透明导光板安装于所述壳体的内部或外部并将所述透光窗全部覆盖。本发明的用于陶瓷基片检测的背光运行机构具有检测效率高、次品率低和降低人力成本的优点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
上海读家电子科技有限公司 |
发明人: |
郑民章;骆志雄 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810065027.7 |
公开号: |
CN108267448A |
代理机构: |
北京知呱呱知识产权代理有限公司 11577 |
代理人: |
李芙蓉;冯建基 |
分类号: |
G01N21/84(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;B07C5/342(2006.01)I;G;B;G01;B07;G01N;B07C;G01N21;B07C5;G01N21/84;G01N21/01;B07C5/342 |
申请人地址: |
200072 上海市静安区晋元路228弄3号1901室 |
主权项: |
1.一种用于陶瓷基片检测的背光运行机构,所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构包括第一驱动机构和第二驱动机构,所述第一驱动机构与所述第二驱动机构连接,所述第一驱动机构驱动所述第二驱动机构沿方向X运动,其特征在于,所述用于陶瓷基片检测的背光运行机构还包括检测平台,所述检测平台包括壳体、半透明导光板和光源,所述壳体上部设置有透光窗,所述壳体的底部与所述第二驱动机构连接,所述第二驱动机构驱动所述检测平台沿方向Y运动,所述光源安装于所述壳体的内部,所述半透明导光板安装于所述壳体的内部或外部并将所述透光窗全部覆盖。 |
所属类别: |
发明专利 |