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镀膜基片检测装置及镀膜基片检测方法
| 专利名称： | 镀膜基片检测装置及镀膜基片检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种镀膜基片检测装置。该镀膜基片检测装置包括一个具有相对两个端面的 暗箱、一个设置于该暗箱一个端面的光源、一个设置于该暗箱另外一个端面的光强度感测器 及一个与该光强度感测器电连接的透过率显示装置，该暗箱在该两个端面之间形成有一个暗 箱门及一个与该暗箱门对应的镀膜基片收容部，该镀膜基片收容部用于收容多片由该暗箱门 进出的镀膜基片。利用该镀膜基片检测装置可同时检测多片镀膜基片，检测效率高，且检测 标准统一，检测效果好。另外，本发明还提供一种镀膜基片检测方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 发明人： | 王仲培 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-05-09T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200810301523.4 |
| 公开号： | CN101576492 |
| 分类号： | G01N21/59(2006.01)I |
| 申请人地址： | 518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |
| 主权项： | 1.一种镀膜基片检测装置，其特征在于包括一个具有相对两个端面 的暗箱、一个设置于该暗箱一个端面的光源、一个设置于该暗箱另外一个端面的光强度感测 器及一个与该光强度感测器电连接的透过率显示装置，该暗箱在该两个端面之间形成有一个 暗箱门及一个与该暗箱门对应的镀膜基片收容部，该镀膜基片收容部用于收容多片由该暗箱 门进出的镀膜基片。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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