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试样制备的装置、系统、方法及粒子分析装置
| 专利名称： | 试样制备的装置、系统、方法及粒子分析装置 |
| 摘要： | 为了高效进行根据样本所包含的粒子的浓度信息和粒子检测试剂进行的测定试样的制备作业，并对样本中的测定对象粒子进行高精确度分析。本发明提供了一种试样制备装置1具备：测定部（2），其测定从样本容器（10）获取的包含粒子的样本并检测出样本中的测定对象粒子；试样制备部（3），其能够对从样本容器（10）获取的样本中的测定对象粒子的浓度进行调整，并混合样本和包含粒子标识物质的数种粒子检测试剂的某者来制备测定试样；控制部（4），其根据测定部（2）的测定数据生成样本容器（10）内的样本中的测定对象粒子的浓度信息，并控制试样制备部（3）以使其按照所生成的浓度信息和制备测定试样时使用的粒子检测试剂的种类对从样本容器（10）获取的样本中的测定对象粒子的浓度进行调整。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 希森美康株式会社 |
| 发明人： | 长井孝明;小国振一郎;辻智悠 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810531921.9 |
| 公开号： | CN108982193A |
| 代理机构： | 北京市安伦律师事务所 11339 |
| 代理人： | 杨永波;韩景漫 |
| 分类号： | G01N1/31(2006.01)I;G01N15/00(2006.01)I;G01N15/14(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1;G01N15;G01N1/31;G01N15/00;G01N15/14 |
| 申请人地址： | 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号 |
| 主权项： | 1.一种试样制备装置，包括：测定部，测定从样本容器获取的包含粒子的样本并检测出所述样本中的测定对象粒子；试样制备部，对从所述样本容器获取的样本中的测定对象粒子的浓度进行调整，并混合样本和包含粒子标识物质的数种粒子检测试剂的某者来制备测定试样；控制部，根据所述测定部的测定数据生成所述样本容器内的样本中的测定对象粒子的浓度信息，并按照生成的所述浓度信息和制备所述测定试样时使用的粒子检测试剂的种类控制所述试样制备部以使其对从所述样本容器获取的样本中的测定对象粒子的浓度进行调整。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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