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一种伪缺陷的超声波计算评定方法
| 专利名称： | 一种伪缺陷的超声波计算评定方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种伪缺陷的超声波计算评定方法，依次包括以下测定步骤：确定待检测工件的缺陷部位F1；超声波探头在缺陷部位F1的A方向进行探测，根据缺陷波F测得缺陷的埋藏深度L1；超声波探头在缺陷部位F1的B方向进行探测，根据缺陷波F测得缺陷的埋藏深度L2；测量被检测工件的厚度L总；判断缺陷真伪，若L总＝L1+L2，则缺陷间隙可忽略不计；若L总＜L1+L2，则F1为真缺陷；若L总＞L1+L2，则F1为伪缺陷。本发明通过从不同方向对缺陷部位进行探测，根据被检工件的总厚度与两侧方向检测的缺陷深度之和作比较，准确快速评定被检测工件中的缺陷真伪，便于定位返修。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 杭州汽轮铸锻有限公司 |
| 发明人： | 鲍俊乐;江涛 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810324035.9 |
| 公开号： | CN108982661A |
| 代理机构： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 |
| 代理人： | 韩洪 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/04 |
| 申请人地址： | 311100 浙江省杭州市余杭区塘栖工业区快2号路 |
| 主权项： | 1.一种伪缺陷的超声波计算评定方法，其特征在于：依次包括以下测定步骤：a)确定待检测工件的缺陷部位F1：超声波探头发射脉冲波到工件内，根据反射波的情况来检测工件的缺陷部位，若工件内无缺陷，则仪器示波器上会显示始波‑‑‑‑T，一次底波‑‑‑‑B；若工件内有缺陷仪，则器示波器上会显示始波‑‑‑‑T，缺陷波‑‑‑‑F，一次底波‑‑‑‑B，根据缺陷波确定工件的缺陷部位F1；b)超声波探头在缺陷部位F1的A方向进行探测：超声波探头在缺陷部位F1的A方向发射脉冲波到工件内，根据缺陷波F测得缺陷的埋藏深度L1；c)超声波探头在缺陷部位F1的B方向进行探测：超声波探头在缺陷部位F1的B方向发射脉冲波到工件内，根据缺陷波F测得缺陷的埋藏深度L2；d)测量被检测工件的厚度L总；e)判断缺陷真伪：若L总＝L1+L2，则缺陷间隙可忽略不计；若L总＜L1+L2，则F1为真缺陷；若L总＞L1+L2，则F1为伪缺陷。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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