专利名称: |
光束相移及偏振旋转的同时超分辨测量装置及方法 |
摘要: |
本发明公开了光束相移及偏振旋转的同时超分辨测量装置及方法,属于量子精密测量领域。光束相移及偏振旋转的同时超分辨测量装置包括:激光器、偏振片、第一偏振分光棱镜、相移器、偏振旋转器、第二偏振分光棱镜、第一光子数分辨探测器、反射镜、非偏振分光棱镜和第二光子数分辨探测器。本发明可以对由样品引起的偏振旋转及相移进行同时探测,且探测分辨率随着入射激光脉冲中的平均光子数N的增大而增大。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
黑龙江;23 |
申请人: |
哈尔滨工业大学 |
发明人: |
张子静;靳辰飞;赵远;岑龙柱 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810085008.0 |
公开号: |
CN108303372A |
代理机构: |
哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 |
代理人: |
岳昕 |
分类号: |
G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01 |
申请人地址: |
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
主权项: |
1.一种光束相移及偏振旋转的同时超分辨测量装置,其特征在于,包括:激光器、偏振片、第一偏振分光棱镜、相移器、偏振旋转器、第二偏振分光棱镜、第一光子数分辨探测器、反射镜、非偏振分光棱镜和第二光子数分辨探测器;所述激光器发射的脉冲激光经所述偏振片偏振后被所述第一偏振分光棱镜分为第一透射光束和第一反射光束,所述第一透射光束依次经过待测样品、所述相移器和所述偏振旋转器,以及经所述第二偏振分光棱镜分光分为第二透射光束和第二反射光束,所述第二透射光束被所述第一光子数分辨探测器接收,以探测所述第二透射光束中包含的光子个数;所述第一反射光束经所述反射镜反射后,与所述第二反射光束在所述非偏振分光棱镜处干涉后,被所述第二光子数分辨探测器接收,以探测经干涉后的光束中包含的光子个数。 |
所属类别: |
发明专利 |