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基于双光束瞬态开孔形成小孔探针的超分辨光学成像方法
| 专利名称： | 基于双光束瞬态开孔形成小孔探针的超分辨光学成像方法 |
| 摘要： | 一种基于双光束瞬态开孔形成小孔探针的超分辨光学成像方法，在扫描显微镜成像系统当中，将镀相变材料薄膜的盖玻片紧靠在样品表面，然后将两束光同时聚焦穿过盖玻片照射到样品上，一束是高功率脉冲激发光，一束是低功率探测光。利用相变材料的非线性特性，当激发光作用在相变材料上，材料具有非线性饱和吸收特性时，则在材料中形成瞬态小孔，探测光通过以后有效半径减小，形成小于极限以下的小孔探针；材料具有非线性反饱和特性时，则利用未激发作用下的弱光信号去与激发作用下的信号进行差分，也能形成小于极限以下瞬态小孔探针，利用形成的小孔探针去逐点扫描成像，实现超分辨远场光学成像。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 发明人： | 丁晨良;魏劲松 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810079044.6 |
| 公开号： | CN108318448A |
| 代理机构： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 |
| 代理人： | 张宁展 |
| 分类号： | G01N21/39(2006.01)I;G01N21/17(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/39;G01N21/17 |
| 申请人地址： | 201800 上海市嘉定区清河路390号 |
| 主权项： | 1.一种基于双光束瞬态开孔形成小孔探针的超分辨光学成像方法，其特征在于该方法包括以下步骤：a)在盖玻片上用磁控溅射的方法镀上一层相变薄膜材料；b)将所述的盖玻片紧贴于待测样品表面，且镀有相变薄膜材料的一面紧贴着待测样品表面；c)将盖玻片和待测样品一起放置在成像样品移动台上；d)利用一束光功率密度小于2×109W/m2的探测光和一束同波长光功率密度大于2×109W/m2，脉冲频率大于1Mhz的激发光同时穿过盖玻片，并照射在待测样品的同一区域；e)将经盖玻片和待测样品的透射光通过滤波片,滤掉功率密度大于2×109W/m2的激发光信号,只让功率密度小于2×109W/m2的探测光信号通过；f)采用点扫描的扫描显微镜系统，将两束光同时聚焦照射到待测样品上，逐点对待测样品进行扫描:对于Sb和Sb70Te30相变薄膜材料，在405nm波长激光作用下它们具有非线性饱和吸收特性，则在激发光作用时收集探测光透过率信号1作为成像信号；对于GeTe、Ge2Sb2Te5、InSb和AgInSbTe相变薄膜材料，在405nm波长激光作用下它们具有非线性反饱和吸收特性，则在激发光作用时收集探测光透过率信号2和在激发光未作用时收集探测光透过率信号3，然后将探测光透过率信号3减去探测光透过率信号2作为成像信号；g)利用探测光检测装置收集扫描区域所有成像信号，形成图像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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