专利名称: |
一种检测消影等级的装置及其控制方法 |
摘要: |
本发明公开了一种检测消影等级的装置及其控制方法,该装置,包括:光源,位于光源的光学路径上的光学元件,光谱检测器,以及与光谱检测器电信号连接的控制器;其中,光学元件,用于将光源出射的光线入射至图案区,并将图案区的反射光入射至光谱检测器,以及将光源出射的光线入射至沟道区,并将沟道区的反射光入射至光谱检测器;光谱检测器,用于检测图案区的反射光的光坐标,并将图案区的反射光的光坐标发送至控制器,以及检测沟道区的反射光的光坐标,并将沟道区的反射光的光坐标发送至控制器;控制器,用于根据图案区和沟道区的反射光的光坐标,确定待测基板的消影等级。该装置实现了宏观现象的数据体现,可以准确的得到待测基板的消影等级。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
发明人: |
阳清;孟庆超;杨文娟;谈宜川;马力;王若鹏;尹奇 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810101455.0 |
公开号: |
CN108303373A |
代理机构: |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人: |
郭润湘 |
分类号: |
G01N21/01(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/27 |
申请人地址: |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |
主权项: |
1.一种检测消影等级的装置,其特征在于,包括:光源,位于所述光源的光学路径上的光学元件,光谱检测器,以及与所述光谱检测器电信号连接的控制器;其中,所述光学元件,用于将所述光源出射的光线入射至待测基板的图案区,并将所述图案区的反射光入射至所述光谱检测器,以及将所述光源出射的光线入射至所述待测基板的沟道区,并将所述沟道区的反射光入射至所述光谱检测器;所述图案区为具有透明材料的区域;所述光谱检测器,用于检测所述图案区的反射光的光坐标,并将所述图案区的反射光的光坐标发送至所述控制器,以及检测所述沟道区的反射光的光坐标,并将所述沟道区的反射光的光坐标发送至所述控制器;所述控制器,用于接收所述图案区和所述沟道区的反射光的光坐标,并根据所述图案区和所述沟道区的反射光的光坐标,确定所述待测基板的消影等级。 |
所属类别: |
发明专利 |