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一种用于电离层H、He同位素测量的仪器和方法
| 专利名称： | 一种用于电离层H、He同位素测量的仪器和方法 |
| 摘要： | 本发明涉及同位素分析技术领域，具体涉及一种用于电离层H、He同位素测量的仪器和方法。利用金箔接受电离层轰击收集H、He等离子体，在密闭空间下对所述金箔加热将所述H、He等离子体释放为混合中性气体，在所述密闭空间内对所述混合中性气体电离分析其同位素组成得到H、He同位素的混合信号；吸附所述混合中性气体中的氢气，对剩余气体进行电离分析He同位素组成，通过计算得到H同位素的信号。本发明提供的测量仪器和方法实现了对电离层等离子体同位素原位测量测试分析从无到有的突破。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 发明人： | 刘子恒;贺怀宇;苏菲;魏勇;李坤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810141029.X |
| 公开号： | CN108303457A |
| 代理机构： | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 |
| 代理人： | 巴晓艳 |
| 分类号： | G01N27/62(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/62 |
| 申请人地址： | 100029 北京市朝阳区北土城西路19号 |
| 主权项： | 1.一种用于电离层H、He同位素测量的仪器，其特征在于，所述仪器包括壳体、等离子收集盖体、气体同位素分析装置；所述壳体中空且一端开口，所述盖体可移动的盖合所述壳体的开口端形成密闭空间；所述等离子收集盖体包括第一侧和第二侧，盖合时，所述第一侧与所述壳体的开口端接触；所述第一侧连接有加热装置，可控制所述加热装置为所述第一侧加热；所述气体同位素分析装置设置在所述壳体内；所述气体同位素分析装置包括气体电离装置、质量分离装置、离子收集装置和氢气吸附装置；所述气体电离装置、质量分离装置和离子收集装置依次连接。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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