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一种薄片材料面向导热性能稳态测试方法
| 专利名称： | 一种薄片材料面向导热性能稳态测试方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种针对薄片状测试样品面向导热性能的稳态测试方法。本发明对薄片样品局部加热直到热平衡状态，然后根据传热截面上温度梯度的积分来计算导热系数。本发明特点在于不要求热流均匀，可以基于薄片样品很小的区域进行测试，表面热损失功率较小，减小表面散热对导热系数测试准确性的影响；同时该方法表征的是薄片小范围的表观导热系数，因此通过改变测试区域可获得非均匀薄片导热系数空间分布的定量评估；基于相同思想，将方法略作修改后也适用于面向导热各向异性的薄片材料。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 中国计量大学 |
| 发明人： | 侯德鑫;叶树亮 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810018047.9 |
| 公开号： | CN108303443A |
| 代理机构： | 杭州奥创知识产权代理有限公司 33272 |
| 代理人： | 王佳健 |
| 分类号： | G01N25/18(2006.01)I;G01N25/16(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/18;G01N25/16 |
| 申请人地址： | 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 |
| 主权项： | 1.一种薄片材料面向导热系数测试方法，其特征在于：对待测薄片以恒定功率持续加热，引起平面方向的热传导，在待测薄片达到热平衡后，测量并记录待测薄片表面温度分布；选择一个完全截断待测薄片中热传导的截面为测试截面，测试截面与待测薄片表面的交线为测试线；根据待测薄片表面温度场数据，计算测试线上各点沿法线方向的温度梯度并将其沿测试线进行线积分，然后乘以待测薄片厚度，结果记为A；估计测试过程中通过测试截面的热流总功率，记为PT；将PT除以A，得到待测薄片材料面向导热系数。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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