专利名称: |
一种超分辨荧光波动显微成像方法、装置及存储介质 |
摘要: |
本发明公开了一种超分辨荧光波动显微成像方法、装置及存储介质,所述超分辨荧光波动显微成像方法为采集经荧光分子标记后的样品通过荧光显微成像系统的若干幅探测图像;对所述探测图像进行傅里叶变换,获得所述若干幅探测图像的傅里叶频谱;设置样品结构和荧光强度波动的初始估计值,基于所述样品结构和荧光强度波动的初始估计值以及若干幅探测图像,根据预设迭代算法进行预设次迭代计算后输出所述样品的成像结果。通过将荧光闪烁的强度变化作为普通结构光成像中所需的随机散斑,并通过迭代算法获得超分辨图像,既不需要额外的实验装置引入结构光,也能在较少的探测次数下提高结构光照明显微成像的分辨率,实现了分辨率与成像成本之间的平衡。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳大学 |
发明人: |
于斌;吴晶晶;李四维;曹慧群;陈丹妮;屈军乐 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810062369.3 |
公开号: |
CN108318464A |
代理机构: |
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 |
代理人: |
王永文;刘文求 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
申请人地址: |
518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号 |
主权项: |
1.一种超分辨荧光波动显微成像方法,其特征在于,包括如下步骤:采集经荧光分子标记后的样品通过荧光显微成像系统的若干幅探测图像;对所述探测图像进行傅里叶变换,获得所述若干幅探测图像的傅里叶频谱;设置样品结构和荧光强度波动的初始估计值,基于所述样品结构和荧光强度波动的初始估计值以及若干幅探测图像的傅里叶频谱,根据预设迭代算法进行预设次迭代计算后输出所述样品的成像结果。 |
所属类别: |
发明专利 |