专利名称: |
显示面板中不良位置检测装置和检测方法 |
摘要: |
本发明公开了一种显示面板中不良位置检测装置和检测方法,所述装置包括:设置于目视检测装置的目视检测平台上方、且与所述目视检测平台同步转动的投影机,以及与所述投影机通讯的投影控制终端;其中,所述投影控制终端用于将第一画面发送至所述投影机,由所述投影机将第一画面投影到所述目视检测平台上放置的显示面板;其中,第一画面包括覆盖所述显示面板的X‑Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。应用本发明可以对不良位置进行精确、高效率检测判定,有助于更快确定不良产生原因以便快速解决不良问题提高产能。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方显示技术有限公司 |
发明人: |
姚健;高章飞;孙国防 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810145963.9 |
公开号: |
CN108318504A |
代理机构: |
北京风雅颂专利代理有限公司 11403 |
代理人: |
李弘 |
分类号: |
G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95 |
申请人地址: |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |
主权项: |
1.一种显示面板中不良位置检测装置,用于检测置于目视检测装置上的显示面板的不良位置,其特征在于,包括:设置于所述目视检测装置的目视检测平台上方、且与所述目视检测平台同步转动的投影机,以及与所述投影机通讯的投影控制终端;其中,所述投影控制终端用于将第一画面发送至所述投影机,由所述投影机将第一画面投影到所述目视检测平台上放置的显示面板;其中,第一画面包括覆盖所述显示面板的X‑Y全屏坐标系,以及交点调整至所述面板不良位置的X参考线与Y参考线。 |
所属类别: |
发明专利 |