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原文传递 一种用于电子玻璃中微小颗粒物成分检测的制样方法及检测方法
专利名称: 一种用于电子玻璃中微小颗粒物成分检测的制样方法及检测方法
摘要: 本发明提供一种用于电子玻璃中微小颗粒物成分检测的制样方法及检测方法,包括:裁切得到包含颗粒物的玻璃样品片;将裁切好的玻璃样品片的一断面用砂纸进行打磨,边磨边在光学显微镜下观察颗粒物距该断面的距离,根据颗粒物距该断面的远近,采用由粗到细的砂纸打磨,直至颗粒物暴露出来;将玻璃样品片上打磨好的断面进行抛光;清洗,镀膜。将镀膜的玻璃样品片放入电子显微镜样品仓,找到颗粒物,用能谱仪对颗粒物成分进行检测。本发明在打磨时,不断利用光学显微镜对颗粒物位置进行观察,采用由粗到细的砂纸进行打磨,可提高磨样的速度和成功率,使制样变得简单容易。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 陕西;61
申请人: 彩虹显示器件股份有限公司
发明人: 刘晓芳;曾召
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810847954.4
公开号: CN108982182A
代理机构: 西安通大专利代理有限责任公司 61200
代理人: 徐文权
分类号: G01N1/28(2006.01)I;G01N33/38(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1;G01N33;G01N1/28;G01N33/38
申请人地址: 712021 陕西省咸阳市秦都区玉泉西路西延段
主权项: 1.一种用于电子玻璃中微小颗粒物成分检测的制样方法,其特征在于,包括以下步骤,步骤1,裁切得到包含颗粒物的玻璃样品片;步骤2,打磨:将裁切好的玻璃样品片的一断面用砂纸进行打磨,边磨边在光学显微镜下观察颗粒物距该断面的距离,根据颗粒物距该断面的远近,采用由粗到细的砂纸打磨,直至颗粒物暴露出来;步骤3,抛光:将玻璃样品片上打磨好的断面进行抛光;步骤4,清洗:将玻璃样品片清洗、干燥;步骤5,镀膜:在玻璃样品片打磨好的断面上蒸镀一层导电膜。
所属类别: 发明专利
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