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一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法
| 专利名称： | 一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法，所述方法通过选择并计算多条分析谱线强度之和与多条内标谱线强度之和的比值(作为纵坐标)，并与分析元素的浓度值(作为横坐标)建立校准曲线，获得高相关系数的校准曲线，用于定量分析元素成分的应用。所述方法可以避免样品的不规则形态而引入的分析误差，提高LIBS检测准确度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 温州大学 |
| 发明人： | 朱德华;王满仓;徐玲杰;蔡燕;陈孝敬;袁雷明;刘文文;张健;曹宇 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810479699.2 |
| 公开号： | CN108344729A |
| 代理机构： | 温州名创知识产权代理有限公司 33258 |
| 代理人： | 陈加利 |
| 分类号： | G01N21/71(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/71 |
| 申请人地址： | 325000 浙江省温州市瓯海区东方南路38号温州市国家大学科技孵化器 |
| 主权项： | 1.一种基于多谱线内定标校准的激光诱导击穿光谱快速检测方法，其特征在于：(1)建立多谱线内定标校准曲线，对待测对象取样进行激光诱导击穿光谱检测，并在激光诱导击穿光谱图中选择并计算多条的分析谱线强度之和与多条内标谱线强度之和的比值，作为第一坐标，其具体为：在数据处理过程中，选择多条分析元素谱线和多条内标元素谱线，并计算其强度和的比值： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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