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用于激光诱导击穿光谱分析的特征谱线自动选择方法
| 专利名称： | 用于激光诱导击穿光谱分析的特征谱线自动选择方法 |
| 摘要： | 本发明属于光谱分析领域，为实现在大量光谱数据中自动且快速的选出与特定元素含量相关的多个特征谱线，无需人工判断过程，大大提升选择效率，有效减少参与建模的特征谱线数量，简化计算过程，提升定量预测模型的稳健型和准确性；同时提供验证方法。本发明，用于激光诱导击穿光谱分析的特征谱线自动选择方法，步骤如下：第1步：对光谱原始数据X做第一次全谱校正；第2步：对第1步校正后的光谱数据Xˊ做第二次全谱校正；第3步：剔除不重要的谱线变量；第4步：迭代，对第3步选择后的剩余变量进行偏最小二乘分析；第5步：判断，循环剩余的谱线即为最终选择结果。本发明主要应用于光谱分析场合。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 天津大学 |
| 发明人： | 段发阶;傅骁;蒋佳佳;黄婷婷;马凌;张聪 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810745641.8 |
| 公开号： | CN108956583A |
| 代理机构： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 |
| 代理人： | 刘国威 |
| 分类号： | G01N21/71(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/71 |
| 申请人地址： | 300072 天津市南开区卫津路92号 |
| 主权项： | 1.一种用于激光诱导击穿光谱分析的特征谱线自动选择方法，其特征是，步骤如下：第1步：对光谱原始数据X做第一次全谱校正，计算每一列谱线变量Xi与校正集元素含量Y的协方差Cov(Xi,Y)，同时分别计算Xi与Y的标准差σXi和σY，根据公式(1)，生成相应的谱线校正因子ρi，光谱原始数据X与变量R＝[ρ1,ρ2,…,ρN]相乘得到数据Xˊ： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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