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热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法
| 专利名称： | 热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法，属于无损检测技术领域。该方法包括如下步骤：试样制备步骤、试样检测步骤、参数确定步骤和试件检测步骤。本发明通过上述技术方案，可有效实现热障抗烧蚀涂层结构的非接触无损检测，有效实现热障抗烧蚀涂层缺陷的无损检测，特别是解决了多层复合涂层结构中涂层界面缺陷的定量检测难题，并具有可操作性强和检测效率高的优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 安泰天龙钨钼科技有限公司;安泰科技股份有限公司 |
| 发明人： | 黄鑫;牛琛辉;刘国辉;张保红;杜仲;周武平;王铁军 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810223960.2 |
| 公开号： | CN108627539A |
| 代理机构： | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 |
| 代理人： | 刘春成 |
| 分类号： | G01N25/72(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25;G01N25/72 |
| 申请人地址： | 101117 北京市通州区潞城镇胡各庄召里工业区内 |
| 主权项： | 1.一种热障抗烧蚀涂层缺陷的红外热像检测方法，其特征在于，所述红外热像检测方法包括如下步骤：试样制备步骤，采用与待测试件的热障抗烧蚀涂层相同的制备工艺制备标准试样，所述标准试样的热障抗烧蚀涂层的结构与所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的结构相同且均为多层结构，所述标准试样的热障抗烧蚀涂层中预设有模拟一种工艺缺陷的人工缺陷，所述标准试样的设置有热障抗烧蚀涂层的基体的材质与所述待测试件的设置有热障抗烧蚀涂层的基体的材质相同；试样检测步骤，在多个红外热像检测系统的检测参数下，分别利用所述红外热像检测系统对所述标准试样的热障抗烧蚀涂层依次进行主动热激励、提取热像序列数据、对所述热像序列数据进行处理以获得所述标准试样的热障抗烧蚀涂层的第一检测成像结果，检测参数包括：主动热激励时的输出功率、红外热图像的采集时间或帧数、帧频；参数确定步骤，根据预设的人工缺陷尺寸与多个所述第一检测成像结果中所显示的人工缺陷尺寸，确定检测所述一种工艺缺陷所需的所述红外热像检测系统的最优化检测参数；和试件检测步骤，基于所述最优化检测参数下的红外热像检测系统，对所述待测试件的热障抗烧蚀涂层进行检测以获得所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的第二检测成像结果，并与在所述最优化检测参数下获得的第一检测成像结果进行对比，分析并定量判断所述待测试件的热障抗烧蚀涂层的所述一种工艺缺陷的质量状态。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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