详情

原文传递一种波长色散X射线荧光分析仪

专利名称：	一种波长色散X射线荧光分析仪
摘要：	本发明涉及一种波长色散X射线荧光分析仪，其特征在于，该荧光分析仪包括X射线光源、准直多毛细管透镜、平面晶体和聚焦多毛细管透镜；所述X射线光源用于发射带有轫致辐射和特征辐射的多波长X光；所述准直多毛细管透镜用于将多波长X光准直为准平行X光；所述平面晶体用于对符合布拉格衍射条件的准平行X光进行单色化；所述聚焦多毛细管透镜用于将所述平面晶体出射的单色准平行X光聚焦照射样品。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京师范大学
发明人：	李玉德;林晓燕;王兴艺
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810509525.6
公开号：	CN108627530A
代理机构：	北京纪凯知识产权代理有限公司 11245
代理人：	徐宁;刘美丽
分类号：	G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223
申请人地址：	100875 北京市海淀区新街口外大街19号
主权项：	1.一种波长色散X射线荧光分析仪，其特征在于，该荧光分析仪包括X射线光源、准直多毛细管透镜、平面晶体和聚焦多毛细管透镜；所述X射线光源用于发射带有轫致辐射和特征辐射的多波长X光；所述准直多毛细管透镜用于将多波长X光准直为准平行X光；所述平面晶体用于对符合布拉格衍射条件的准平行X光进行单色化；所述聚焦多毛细管透镜用于将所述平面晶体出射的单色准平行X光聚焦照射样品。
所属类别：	发明专利