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一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法
| 专利名称： | 一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法，所述方法采用连续调制激光束照射在复合绝缘子表面，在计算机控制激光束调制频率变化过程中，采用红外探测器探测复合绝缘子表面红外辐射信号随调制频率变化情况。根据红外辐射信号的频域变化特性，采用复合绝缘子热传导理论模型拟合得到复合绝缘子的热物理信息(热扩散率)和光吸收特征(体吸收系数和表面吸收率)，从而判定复合绝缘子的老化程度。本方法利用老化对复合绝缘子热传导特性和光吸收特性的影响来评估复合绝缘子的老化程度，具有方法和操作简单、结果准确可靠、可快速评估老化程度等优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 电子科技大学 |
| 发明人： | 李斌成;江海涛;赵斌兴;孙启明 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810630712.X |
| 公开号： | CN109030411A |
| 分类号： | G01N21/39(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/39 |
| 申请人地址： | 611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号 |
| 主权项： | 1.一种基于连续调制激光照射的复合绝缘子老化程度检测方法，其特征在于：将一束连续调制的激光束照射在复合绝缘子样品表面，复合绝缘子样品吸收激光束能量而导致温度上升并产生红外辐射，调制的激光照射使复合绝缘子表面的红外辐射信号携带样品的热物理信息和光吸收信息，经由红外探测器探测、锁相放大器记录并通过计算机处理获取复合绝缘子样品的老化程度信息。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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