专利名称: |
一种基于射频电子学方法的散射式太赫兹近场显微镜 |
摘要: |
一种基于射频电子学方法的散射式太赫兹近场显微镜,该系统包括第一部分:第一射频种子源、第一功分器、第一倍频器、定向耦合器;第二部分:第二射频种子源、第二功分器、第二倍频器、混频器;以及抛物面镜、压电陶瓷、纳米级曲率探针、样品、射频混频器、第三倍频器、中频混频器、锁相放大器、信号发生器、计算机、导视激光器和反光镜片。本发明通过射频混频技术提供本振信号,而后对混频器输出的中频信号进行滤波降噪,再采用锁相技术将将近场波提取出来,从而有效地得到待测样品的信息。同时本发明还具有结构紧凑简单、操作简单、探测效率高、稳定性高、可操作性强等特点,能够完成近场THz弱散射信号的幅值和相位的提取工作。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
吉林;22 |
申请人: |
代广斌 |
发明人: |
代广斌 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810970798.0 |
公开号: |
CN109030404A |
代理机构: |
长春市四环专利事务所(普通合伙) 22103 |
代理人: |
张建成 |
分类号: |
G01N21/3581(2014.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3581;G01N21/01 |
申请人地址: |
130061 吉林省长春市西民主大街938号 |
主权项: |
1.一种基于射频电子学方法的散射式太赫兹近场显微镜,其特征在于:第一部分和第二部分;第一部分包括第一射频种子源(1)、第一功分器(3)、第一倍频器(5)和定向耦合器(7);第二部分包括第二射频种子源(2)、第二功分器(4)、第二倍频器(6)、混频器(8);以及抛物面镜(9)、压电陶瓷(10)、纳米级曲率探针(11)、样品(12)、射频混频器(13)、第三倍频器(14)、中频混频器(15)、锁相放大器(16)、信号发生器(17)、计算机(18)、导视激光器(19)、反光镜片(20);第一部分中第一射频种子源(1)与第一功分器(3)的a端相连,第一功分器(3)的b端与射频混频器(13)的a端相连,第一功分器(3)的c端与第一倍频器(5)相连,第一倍频器(5)与定向耦合器(7)相连;第二部分中第二射频种子源(2)与第二功分器(4)的a端相连,第二功分器(4)的b端与射频混频器(13)的b端相连,第二功分器(4)的c端与第二倍频器(6)相连,第二倍频器(6)与混频器(8)的a端相连,混频器(8)的b端与定向耦合器(7)相连,混频器(8)的c端与中频混频器(15)相连;射频混频器(13)的c端与第三倍频器(14)相连,第三倍频器(14)与中频混频器(15)相连,中频混频器(15)与锁相放大器(16)相连,锁相放大器(16)与信号发生器(17)相连,信号发生器(17)与探针上的压电陶瓷(10)相连,纳米级曲率探针(11)在压电陶瓷(10)促动下进行高频振动,计算机(18)接收并处理锁相放大器(16)处理完毕的信号;第一部分中第一射频种子源(1)发出的信号由第一功分器(3)分为两路,一路连接到第一倍频器(5),经过其倍频后传输到定向耦合器(7)并经过其波导口发射出去,另一路信号传输到射频混频器(13)中;第二部分中第二射频种子源(2)发出的信号由第二功分器(4)分为两路,一路信号传输到射频混频器(13)中,另一路连接到第二倍频器(6),经过其倍频后传输到混频器(8)中;定向耦合器(7)的波导口发出的THz波经离轴抛物面镜(9)汇聚后照射到由压电陶瓷(10)驱动的高频振动的纳米探针(11)上,然后再由离轴抛物面镜(9)接收含有样品信息的探针针尖的后向散射的非常弱的THz光束,并将其回射到定向耦合器(7)中,随后定向耦合器(7)将接收的回射信号传输到第二部分的混频器(8)中;另一方面射频混频器(13)的输出信号传输给第三倍频器(14),并经过其倍频后送到中频混频器(15)中,随后该信号与中频混频器(15)的另一端输入做混频,然后混频后的信号送到锁相放大器(16)中处理并传送到计算机(18)中,最终就可得到所测试的样品的幅值和相位信息,即在THz波段的电磁信息;本发明中,发光镜片(20)可以在透射绝大部分的THz波的同时反射导视激光器(19)发出的光;导视激光器(19)发出的光为肉眼可见的光,通过发光镜片(20)的作用,可以将可见光路与THz光路调整为重合光路,起到良好的导视作用,为光路调节提供很大的方便;通过信号发生器(17)的两路同步输出同时控制纳米级探针(11)和锁相放大器(16)参考信号输入,实现了信号的同步提取,能够准确地获取探针近场区域激发出的电磁波所携带的样品信息,这样就达到了THz近场信号的高效率、高质量、低操作难度探测的目的。 |
所属类别: |
发明专利 |