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一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法
| 专利名称： | 一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，使用变温积分球光学耦合测试装置，包括:控温部件、积分球，光通过积分球上的光孔打在样品上，反射到积分球中进行漫反射后经过光纤导出；光纤，连接积分球和光谱仪，漫反射光通过变温光谱测定，得到固体样品在不同温度条件下的绝对量子产率；所述控温部件包括电制冷和电加热温度控制装置；所述固体样品位于所述控温部件中，光谱仪的设置参数为激发波长为300至380纳米，激发狭缝为5至20纳米，发射狭缝为5至20纳米。本发明提供的方法测定速度快，效率高，测量误差小，可得到固体在低温和变温条件下发光效率特征，同时拓展了变温绝对量子产率在发光，照明，显示和生物成像等领域的应用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京师范大学 |
| 发明人： | 闫东鹏;陈明星 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810565491.2 |
| 公开号： | CN109030419A |
| 代理机构： | 北京太兆天元知识产权代理有限责任公司 11108 |
| 代理人： | 梁青红 |
| 分类号： | G01N21/47(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/47 |
| 申请人地址： | 100875 北京市海淀区新街口外大街19号 |
| 主权项： | 1.一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，使用变温积分球光学耦合测试装置，包括:控温部件，用于控制固体样品的温度范围内变化；积分球，光通过积分球上的光孔打在样品上，反射到积分球中进行漫反射后经过光纤导出；光纤，连接积分球和光谱仪，漫反射光通过变温光谱测定，得到固体样品在不同温度条件下的光学参数测量；所述控温部件包括电制冷和电加热温度控制装置，位于积分球开口处正下方1‑2mm，控制固体样品的温度范围为4K‑500K；所述固体样品位于所述控温部件中，是粉末或薄膜样品；光谱仪的设置参数为激发波长为300至380纳米，激发狭缝为5至20纳米，发射狭缝为5至20纳米。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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