专利名称: |
一种量子产率测量方法 |
摘要: |
一种量子产率测量方法,包括:步骤1:在20 mL异丙醇溶剂中加入0.5 mL氨水和2克硅酸四乙酯,在30℃反应搅拌24小时;步骤2:加入3克四丁氧硅烷和2ml正丙醇,在50℃反应搅拌12小时;步骤3:加入1克氨基丙基三乙氧基硅烷和3克3‑(三乙氧硅烷基)丙基琥珀酸酐,在30℃反应搅拌24小时。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
程桂平 |
发明人: |
程桂平 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810302648.2 |
公开号: |
CN108204964A |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;C09K11/65(2006.01)I;G;C;G01;C09;G01N;C09K;G01N21;C09K11;G01N21/64;C09K11/65 |
申请人地址: |
100301 北京市朝阳区建外soho2101房间 |
主权项: |
1.一种量子产率测量方法,包括:步骤1:在20 mL异丙醇溶剂中加入0.5 mL氨水和2克硅酸四乙酯, 在30℃反应搅拌24小时;步骤2:加入3克四丁氧硅烷和2ml正丙醇,在50℃反应搅拌12小时;步骤3:加入1克氨基丙基三乙氧基硅烷和3克3‑(三乙氧硅烷基)丙基琥珀酸酐, 在30℃反应搅拌24小时;步骤4: 以酒精清洗3次;步骤5: 将所得粉体进行热处理,以2℃/min的加热速率加热至400℃,得到淡黄色的碳掺杂二氧化硅粉体;步骤6:根据公式1来计算量子产率,公式1:其中Φ为量子产率,I是测量的整体发射强度,n是折射系数,酒精为1.36,而A是光学强度,而下标r是指已知量子产率的参考荧光团。 |
所属类别: |
发明专利 |