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原文传递测试量子产率的方法

专利名称：	测试量子产率的方法
摘要：	本发明公开了一种测试量子产率的方法。该方法包括以下步骤：提供量子产率为QYr的标准物质；提供折射率为nr的第一溶剂和折射率为ns的第二溶剂，将标准物质溶解在第一溶剂中形成标准液，得到所述标准物质的吸光度Ar；将待测物质溶解在第二溶剂中形成待测液，得到所述待测物质的吸光度As；使用第一波长λ1的第一激发光对标准液进行测试得到标准物质的发射峰积分面积Fr；使用第二波长λ2的第二激发光对待测液进行测试得到待测物质的发射峰积分面积Fs；在第一波长λ1处，获得第一激发光光强Ir；在第二波长λ2处，获得第二激发光光强Is。待测物质的量子产率QYs由下式得出：
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州星烁纳米科技有限公司
发明人：	王允军;孙雅娟;李敬群
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810223940.5
公开号：	CN108535225A
分类号：	G01N21/64(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64;G01N21/31
申请人地址：	215123 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号纳米城NW06-403
主权项：	1.测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供量子产率为QYr的标准物质；提供折射率为nr的第一溶剂和折射率为ns的第二溶剂，将所述标准物质溶解在所述第一溶剂中形成标准液，得到所述标准物质的吸光度Ar；将待测物质溶解在第二溶剂中形成待测液，得到所述待测物质的吸光度As；使用第一波长λ1的第一激发光对所述标准液进行测试得到所述标准物质的发射峰积分面积Fr；使用第二波长λ2的第二激发光对所述待测液进行测试得到所述待测物质的发射峰积分面积Fs；在所述第一波长λ1处，获得第一激发光光强Ir；在所述第二波长λ2处，获得第二激发光光强Is，所述待测物质的量子产率QYs由下式得出：
所属类别：	发明专利