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原文传递一种荧光量子产率测试仪及其测试方法

专利名称：	一种荧光量子产率测试仪及其测试方法
摘要：	本发明公开了一种荧光量子产率测试仪，包括：激光光源系统、光强光斑调节系统、积分球系统和光学收集系统；所述激光光源系统包括：激光器固定架和激光器；所述激光器固定在激光器固定架上；所述光强光斑调节系统包括：可调光学中性滤光片、聚焦透镜、调节杆和导轨；所述可调光学中性滤光片位于激光光源系统的激光器的正下方，所述聚焦透镜和调节杆连接，所述调节杆调节聚焦透镜在导轨上移动；本荧光量子产率测试仪不仅适用于检测高量子产率材料的量子产率而且适用于检测部分低量子产率材料的量子产率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	广州大学
发明人：	张伟;邹贤劭
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-14T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910032496.3
公开号：	CN109781681A
代理机构：	广州市华学知识产权代理有限公司
代理人：	雷芬芬
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	510006 广东省广州市番禺区大学城外环西路230号
主权项：	1.一种荧光量子产率测试仪，其特征在于，包括：激光光源系统、光强光斑调节系统、积分球系统和光学收集系统；所述激光光源系统包括：激光器固定架(1)和激光器(2)；所述激光器(2)固定在激光器固定架(1)上；所述光强光斑调节系统包括：可调光学中性滤光片(3)、聚焦透镜(4)、调节杆(5)和导轨(6)；所述可调光学中性滤光片(3)位于激光光源系统的激光器(2)的正下方，所述聚焦透镜(4)和调节杆(5)连接，所述调节杆(5)调节聚焦透镜(4)在导轨(6)上移动；所述荧光量子产率测试仪还包括：金属盒(7)；所述金属盒(7)的一侧开设有滤光片旋转开口(8)和聚焦透镜调节开口(9)，所述可调光学中性滤光片(3)的尾端伸出滤光片旋转开口(8)，所述调节杆(5)的尾端伸出聚焦透镜调节开口(9)；所述积分球系统的顶部设置有开口；所述聚焦透镜(4)正对开口，所述积分球系统一侧开设有出射口(19)，光学收集系统和出射口(19)在同一水平线上。 2.根据权利要求1所述的荧光量子产率测试仪，其特征在于，所述积分球系统包括：外壳(14)；所述外壳(14)包括前半部和后半部，前半部和后半部通过阀门锁(15)进行密封固定；所述外壳(14)内表面为涂覆层(18)，所述外壳(14)的内部形成一个圆形空腔；所述积分球系统的底部设置有载物平台(11)，所述载物平台(11)在聚焦透镜(4)的正下方；所述载物平台(11)涂覆有与涂覆层(18)相同的覆盖材料；所述积分球系统内设置有光学阻挡板(17)，所述光学阻挡板的表面涂覆有与涂覆层(18)相同的覆盖材料，出射口(19)和光学阻挡板(17)位于同一侧。 3.根据权利要求1或2所述的荧光量子产率测试仪，其特征在于，所述光学收集系统包括：依次水平排列的准直透镜(20)、滤光片(21)、聚焦透镜(22)和用于与光谱仪(24)或光纤连接的接口(23)；所述准直透镜(20)的中心、滤光片(21)的中心、聚焦透镜(22)的中心和接口(23)的中心、出射口(19)的中心均位于同一中心线。 4.根据权利要求2所述的荧光量子产率测试仪，其特征在于，所述金属盒(7)的底边和积分球系统的外壳(14)接触，当聚焦透镜(4)被调节到最下面时，聚焦透镜(4)位于所述积分球系统顶部的开口内。 5.根据权利要求2所述的荧光量子产率测试仪，其特征在于，所述覆盖材料为硫酸钡。 6.根据权利要求2所述的荧光量子产率测试仪，其特征在于，所述硫酸钡的反射率为90％。 7.一种荧光量子产率测试仪的测试方法，其特征在于，包括： S1，在载物平台(11)上放待测样品时，开启荧光量子产率测试仪测试激发光子数Nex0和发射光子数Nem0； S2，在载物平台(11)上放待测样品，开启荧光量子产率测试仪测试激发光子数Nex’和发射光子数Nem’； S3，根据计算公式，计算待测样品的量子产率，计算公式为：其中，Nabs＝Nex0-Nex’，Nem＝Nem’-Nem0。 8.根据权利要求1所述的荧光量子产率测试仪的测试方法，其特征在于，步骤S1之前包括：将荧光量子产率测试仪的激光光源系统换成标准灯源；开启荧光量子产率测试仪进行校准。
所属类别：	发明专利