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原文传递测试量子产率的方法

专利名称：	测试量子产率的方法
摘要：	本发明提供了一种测试量子产率的方法，包括：提供折射率ns的第一溶剂，将待测物质溶解在第一溶剂中形成待测液，得到待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对待测液进行测试得到待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs；在波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，得到多种标准物质各自的发射峰波长λr，根据多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值，由多个C值和相应的发射峰波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由发射峰波长λs和灵敏度计算式得到相应的灵敏度Cs；待测物质的量子产率QYs由下式得出：。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州星烁纳米科技有限公司
发明人：	王允军;孙雅娟;李敬群
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810224055.9
公开号：	CN108562562A
分类号：	G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64
申请人地址：	215123 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号纳米城NW06-403
主权项：	1.测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供折射率为ns的第一溶剂，将待测物质溶解在所述第一溶剂中形成待测液，得到所述待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对所述待测液进行测试得到所述待测物质的发射峰积分面积Fs和发射峰波长λs；在所述波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，得到所述多种标准物质各自的发射峰波长λr，并且根据所述多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个所述激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值，由所述多个C值和相应的发射峰波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由所述发射峰波长λs和所述灵敏度计算式得到对应于所述发射峰波长λs的灵敏度Cs；所述待测物质的量子产率QYs由下式得出：
所属类别：	发明专利