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原文传递一种量子产率的测试方法

专利名称：	一种量子产率的测试方法
摘要：	本发明属于量子产率技术领域，提供了一种量子产率的测试方法，通过将待测材料放入积分球内部，先获取激发光的激发光光谱，然后将激发光照射在待测材料上，获取待测材料的光致发光光谱以及激发光的透射光谱，并根据激发光光谱、光致发光光谱以及透射光谱生成待测材料的量子产率，从而使得在探测激发光光谱、光致发光光谱以及透射光谱时无需取出待测材料，保证了测试数据均在同一环境下取得，避免了因为测试环境不同而产生的误差，解决了传统测定量子产率的方法中，在探测激发光的光谱和激发光透射光谱时的测量状态存在差异，导致测定的量子产率出现一定的误差的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;华讯方舟科技有限公司
发明人：	薛占强;郭翠;潘奕
专利状态：	有效
申请号：	CN201811602824.0
公开号：	CN109507153A
代理机构：	深圳中一专利商标事务所 44237
代理人：	高星
分类号：	G01N21/63(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东
主权项：	1.一种量子产率的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：将待测材料放入积分球内部，并获取激发光的激发光光谱；将所述激发光照射在所述待测材料表面，获取所述待测材料的光致发光光谱以及所述激发光的透射光谱；根据所述激发光光谱、所述光致发光光谱以及所述透射光谱生成所述待测材料的量子产率。
所属类别：	发明专利