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原文传递测试量子产率的方法

专利名称：	测试量子产率的方法
摘要：	本发明涉及测试量子产率的方法，包括：提供折射率为n_s的第一溶剂，将待测物质溶解在其中形成待测液；得到待测物质的吸光度A_s；使用波长λ₁的第一激发光对待测液进行测试，得到其发射峰积分面积F_s和将发射峰积分面积F_s二等分的等效波长λ_s；在波长λ₁处，获得第一激发光光强I_s；提供多种标准物质，根据多种标准物质各自的量子产率QY_r、激发波长λ₂、在多个激发波长λ₂处的多个第二激发光光强I_r、吸光度A_r、发射峰积分面积F_r得到测试装置的多个灵敏度C值；得到将发射峰积分面积F_r二等分的等效波长λ_r，由多个C值和相应的等效波长λ_r建立灵敏度计算式C＝f(λ)；由等效波长λ_s和灵敏度计算式得到相应的灵敏度C_s；待测物质的量子产率QY_s由下式得出：
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州星烁纳米科技有限公司
发明人：	王允军;孙雅娟;李敬群
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810224054.4
公开号：	CN108801949A
分类号：	G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/31
申请人地址：	215123 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号纳米城NW06-403
主权项：	1.测试量子产率的方法，包括以下步骤：提供折射率为ns的第一溶剂，将待测物质溶解在所述第一溶剂中形成待测液；得到所述待测物质的吸光度As；使用波长λ1的第一激发光对所述待测液进行测试，得到所述待测物质的发射峰积分面积Fs和将所述发射峰积分面积Fs二等分的等效波长λs；在所述波长λ1处，获得第一激发光光强Is；提供多种标准物质，根据所述多种标准物质各自的量子产率QYr、激发波长λ2、在多个所述激发波长λ2处的多个第二激发光光强Ir、吸光度Ar、发射峰积分面积Fr得到测试装置的多个灵敏度C值；得到将发射峰积分面积Fr二等分的等效波长λr，由所述多个C值和相应的等效波长λr建立测试装置的灵敏度计算式C＝f(λ)；由所述等效波长λs和所述灵敏度计算式得到对应于所述等效波长λs的灵敏度Cs；所述待测物质的量子产率QYs由下式得出：
所属类别：	发明专利