专利名称: |
一种反射率检测设备及其检测方法 |
摘要: |
本发明提供了一种反射率检测设备,包括检测箱体和压片固定件,所述检测箱体包括光路连通的光源、检测室和积分球单元,所述检测箱体一侧壁上设有一通孔,所述积分球单元设有一检测口,所述检测口固定在所述侧壁上并贯穿所述通孔,所述压片固定件包括一压片基板和设置于所述压片基板一侧的吸附件,所述吸附件与一负压装置相连接,所述负压装置用于为所述吸附件提供吸附力以固定吸附待测样品,所述吸附件与所述检测口活动贴合。本发明还提供了一种反射率检测设备的检测方法。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人: |
林虹云;王俐;夏振宇;孙志恒;张小新 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810448675.0 |
公开号: |
CN108645794A |
代理机构: |
广州三环专利商标代理有限公司 44202 |
代理人: |
郝传鑫;熊永强 |
分类号: |
G01N21/01(2006.01)I;G01N21/552(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/552 |
申请人地址: |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |
主权项: |
1.一种反射率检测设备,其特征在于,包括检测箱体和压片固定件,所述检测箱体包括光路连通的光源、检测室和积分球单元,所述检测箱体一侧壁上设有一通孔,所述积分球单元设有一检测口,所述检测口固定在所述侧壁上并贯穿所述通孔,所述压片固定件包括一压片基板和设置于所述压片基板一侧的吸附件,所述吸附件与一负压装置相连接,所述负压装置用于为所述吸附件提供吸附力以固定吸附待测样品,所述吸附件与所述检测口活动贴合。 |
所属类别: |
发明专利 |