专利名称: |
一种用于玻璃颗粒的测量装置 |
摘要: |
本发明提供了一种用于玻璃颗粒的测量装置,包括滑动导轨、连接装置、测量装置、滚轮装置、光学平板、外形支架;外形支架固定在水平平台上,滚轮装置设置于外形支架上,光学平板设置于滚轮装置上且沿滚轮装置移动,直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板上,滑动导轨设置于外形支架上且位于光学平板上方,连接装置设置于滑动导轨上且沿滑动导轨移动,测量装置设置于连接装置上用于测量玻璃颗粒的直径。本发明解决了人工测量效率低、出错率高的问题。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
南京理工大学 |
发明人: |
仇杰;陈世林;颜志刚;邱亚峰 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810843047.2 |
公开号: |
CN108663294A |
代理机构: |
南京理工大学专利中心 32203 |
代理人: |
朱宝庆 |
分类号: |
G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02 |
申请人地址: |
210094 江苏省南京市孝陵卫200号 |
主权项: |
1.一种用于玻璃颗粒的测量装置,其特征在于,包括滑动导轨(1)、连接装置(2)、测量装置(3)、滚轮装置(4)、光学平板(5)、外形支架(6);其中外形支架(6)固定在水平平台上,滚轮装置(4)设置于外形支架(6)上,光学平板(5)设置于滚轮装置(4)上且沿滚轮装置(4)移动,直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板(5)上,滑动导轨(1)设置于外形支架(6)上且位于光学平板(5)上方,连接装置(2)设置于滑动导轨(1)上且沿滑动导轨(1)移动,测量装置(3)设置于连接装置(2)上用于测量玻璃颗粒的直径。 |
所属类别: |
发明专利 |