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原文传递玻璃颗粒检测装置

专利名称：	玻璃颗粒检测装置
摘要：	本实用新型涉及玻璃缺陷检测装置技术领域，尤其涉及一种玻璃颗粒检测装置。一种玻璃颗粒检测装置，该检测装置包括有机架，机架上设置有：载料夹具，夹持有待检玻璃；拍摄装置，设置于载料夹具的上方；以及照射装置，设置于载料夹具的上方；其中，照射装置的光线倾斜照射于待检玻璃的正面形成入射光，入射光经待检玻璃的正面反射形成第一反射光，入射光经待检玻璃折射再经待检玻璃的反面反射形成第二反射光，拍摄装置接入第一反射光和第二反射光并成像。本方案中，通过判断由拍摄装置所获取的成像是否形成二次成像，以判断出玻璃颗粒是位于待检玻璃正面或反面。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市中钞科信金融科技有限公司
发明人：	罗北;朱剑文;廖金炯;卓东升;洪坤城;文强
专利状态：	有效
申请日期：	2022-08-02T00:00:00+0800
发布日期：	2022-11-29T00:00:00+0800
申请号：	CN202222027896.5
公开号：	CN217931267U
代理机构：	深圳市正威知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	柳大江
分类号：	G01N15/00;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/00
申请人地址：	518000 广东省深圳市福田区彩田路西中银花园办公楼A栋9B
主权项：	1.一种玻璃颗粒检测装置，其特征在于，该检测装置包括有机架(1)，机架(1)上设置有：载料夹具(11)，夹持有待检玻璃(2)；拍摄装置(12)，设置于载料夹具(11)的上方；以及照射装置(13)，设置于载料夹具(11)的上方；其中，照射装置(13)的光线倾斜照射于待检玻璃(2)的正面形成入射光，入射光经待检玻璃(2)的正面反射形成第一反射光，入射光经待检玻璃(2)折射再经待检玻璃(2)的反面反射形成第二反射光，拍摄装置(12)接入第一反射光和第二反射光并成像。 2.根据权利要求1所述的玻璃颗粒检测装置，其特征在于：所述入射光的入射角为α，且10°≤α≤30°。 3.根据权利要求1所述的玻璃颗粒检测装置，其特征在于：所述拍摄装置(12)包括第一弧面面检相机(121)、第二弧面面检相机(122)和平面面检相机(123)，第一弧面面检相机(121)和第二弧面面检相机(122)分别对称设置于平面面检相机(123)的两侧。 4.根据权利要求3所述的玻璃颗粒检测装置，其特征在于：所述机架(1)还设置有第一相机导轨(124)、第二相机导轨(125)和第三相机导轨(126)，所述第一弧面面检相机(121)、所述第二弧面面检相机(122)和所述平面面检相机(123)分别活动连接于第一相机导轨(124)、第二相机导轨(125)和第三相机导轨(126)。 5.根据权利要求1所述的玻璃颗粒检测装置，其特征在于：所述载料夹具(11)包括夹紧气缸(111)和夹爪(112)，夹紧气缸(111)驱动夹爪(112)夹紧待检玻璃(2)。 6.根据权利要求1所述的玻璃颗粒检测装置，其特征在于：所述照射装置(13)包括交替点亮的亮场光源(131)和暗场光源(132)。 7.根据权利要求1所述的玻璃颗粒检测装置，其特征在于：所述机架(1)还设置有X轴导轨(15)，所述载料夹具(11)活动连接于所述X轴导轨(15)。 8.根据权利要求1所述的玻璃颗粒检测装置，其特征在于：所述机架(1)还设置有复检相机组件(14)、Y轴导轨(16)和Z轴导轨(17)，复检相机组件(14)活动连接于Z轴导轨(17)，Z轴导轨(17)活动连接于Y轴导轨(16)；复检相机组件(14)采用显微成像，设置于所述载料夹具(11)的上方，且用于拍摄待检玻璃(2)以获取其玻璃颗粒的图像。 9.根据权利要求1所述的玻璃颗粒检测装置，其特征在于：该检测装置还包括与所述拍摄装置(12)电接的处理器，用于提取所述拍摄装置(12)的图像中同一玻璃颗粒的数量，并根据该数量判断该玻璃颗粒是否位于待检玻璃(2)的正面或反面。