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细颗粒检测装置和细颗粒检测方法
| 专利名称： | 细颗粒检测装置和细颗粒检测方法 |
| 摘要： | 本发明提供细颗粒检测装置和细颗粒检测方法，通用性高且能够高精度地得到细颗粒的质量浓度。本公开是对被测定气体中含有的细颗粒进行检测的细颗粒检测装置。细颗粒检测装置具备传感器部、电路部以及控制部。传感器部构成为利用通过电晕放电产生的离子来使被测定气体中的细颗粒带电。电路部构成为对离子电流值进行检测，该离子电流值是与附着于从传感器部放出的细颗粒来使所述细颗粒带电的离子量相当的电流值。控制部构成为，将离子电流值换算为细颗粒的颗粒数浓度，并且使用预先获取到的细颗粒的颗粒数与质量的相关关系来将颗粒数浓度换算为细颗粒的质量浓度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 日本特殊陶业株式会社 |
| 发明人： | 丹下健;后藤佑一 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-04-18T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-10-29T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910313980.3 |
| 公开号： | CN110389094A |
| 代理机构： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 刘新宇 |
| 分类号： | G01N15/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 日本爱知县 |
| 主权项： | 1.一种细颗粒检测装置，检测被测定气体中含有的细颗粒，所述细颗粒检测装置具备： 传感器部，其构成为利用通过电晕放电产生的离子来使所述被测定气体中的所述细颗粒带电； 电路部，其构成为对离子电流值进行检测，该离子电流值是与附着于从所述传感器部放出的所述细颗粒来使所述细颗粒带电的离子量相当的电流值；以及 控制部，其构成为，将所述离子电流值换算为所述细颗粒的颗粒数浓度，并且使用预先获取到的所述细颗粒的颗粒数与质量的相关关系来将所述颗粒数浓度换算为所述细颗粒的质量浓度。 2.根据权利要求1所述的细颗粒检测装置，其特征在于， 所述相关关系为规定的形式的近似函数。 3.根据权利要求2所述的细颗粒检测装置，其特征在于， 在将所述细颗粒的颗粒数设为X、将质量设为Y时，所述近似函数为使用常数K1、K2、K3用下述式(1)表示的函数， Y＝K1·X2+K2·X+K3···(1)。 4.根据权利要求1至3中的任一项所述的细颗粒检测装置，其特征在于， 所述控制部构成为，输出所述颗粒数浓度或基于所述颗粒数浓度的颗粒数参数、所述质量浓度或基于所述质量浓度的质量参数。 5.一种细颗粒检测方法，检测被测定气体中含有的细颗粒，所述细颗粒检测方法包括以下工序： 利用通过电晕放电产生的离子使所述被测定气体中的所述细颗粒带电； 对离子电流值进行检测，该离子电流值是与附着于所述细颗粒来使所述细颗粒带电的离子量相当的电流值； 将所述离子电流值换算为所述细颗粒的颗粒数浓度；以及 使用预先获取到的所述细颗粒的颗粒数与质量的相关关系，将所述颗粒数浓度换算为所述细颗粒的质量浓度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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