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原文传递颗粒检测装置

专利名称：	颗粒检测装置
摘要：	本实用新型涉及颗粒检测技术领域，提供了一种颗粒检测装置，包括箱体，用于生成检测用光线的光源，用于对所述检测用光线进行调整的光路调整单元，用于放置包含颗粒的待检测样品的样品放置单元、用于放置不包含颗粒的对比样品的对比单元和用于采集检测衍射图像的图像采集单元，所述光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元和图像采集单元设置在所述箱体中；本实用新型适用于石灰石浆液颗粒细度的检测，可以提高测量精度。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	河北;13
申请人：	华北电力大学(保定)
发明人：	仝卫国;刘震;李奕颖;庞雪纯;朱赓宏
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-30T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201920622819.X
公开号：	CN209878548U
代理机构：	石家庄国为知识产权事务所
代理人：	李荣文
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	071000 河北省保定市北市区永华北大街619号
主权项：	1.一种颗粒检测装置，其特征在于，包括：箱体、光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元和图像采集单元，所述光源、光路调整单元、样品放置单元、对比单元和图像采集单元设置在所述箱体中；所述光源用于生成检测用光线，并射向所述光路调整单元；所述光路调整单元用于对所述检测用光线进行光路调整，其中经光路调整后的检测用光线射向所述样品放置单元和所述对比单元；所述样品放置单元用于放置包含颗粒的待检测样品；所述对比单元用于放置不包含颗粒的对比样品；所述图像采集单元采集所述检测用光线照射在所述样品放置单元中放置的包含颗粒的待检测样品时所产生的第一衍射图像，以及采集所述检测用光线照射在所述对比单元中放置的不包含颗粒的对比样品时所产生的第二衍射图像。 2.如权利要求1所述的颗粒检测装置，其特征在于，所述光源为He-Ne激光器。 3.如权利要求1所述的颗粒检测装置，其特征在于，所述光路调整单元包括第一偏振分光棱镜、第二偏振分光棱镜、第一扩束透镜、第一准直透镜、第二扩束透镜和第二准直透镜；所述第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜，将所述检测用光线分为第一路检测用光线和第二路检测用光线；所述第一路检测用光线依次通过所述第一扩束透镜和第一准直透镜进行光路调整后射向所述样品放置单元；所述第二路检测用光线依次通过第二扩束透镜和第二准直透镜进行光路调整后射向所述对比单元。 4.如权利要求3所述的颗粒检测装置，其特征在于，所述图像采集单元包括第一CMOS相机和第二CMOS相机；所述第一CMOS相机用于采集所述检测用光线照射在所述样品放置单元中放置的待检测检品时所产生的衍射图像；所述第二CMOS相机用于采集所述检测用光线照射在所述对比单元中放置的不包含颗粒的样品时所产生的衍射图像。 5.如权利要求1所述的颗粒检测装置，其特征在于，所述样品放置单元包括：用于放置包含颗粒的待检测样品的透明样品槽；用于搅拌所述透明样品槽中的包含颗粒的待检测样品的搅拌器。 6.如权利要求5所述的颗粒检测装置，其特征在于，所述搅拌器包括搅拌叶、搅拌轴、伸缩杆、电控装置和开关按钮；所述搅拌叶顶端与搅拌轴底端连接，搅拌轴顶端与伸缩杆底端连接，伸缩杆顶端连接电控装置并固定于箱体顶部，开关按钮连接于电控装置顶端并穿过箱体顶部固定在箱体的外部；所述搅拌器经由开关按钮启动，电控装置通过控制伸缩杆伸展搅拌轴至样品槽内，经由搅拌叶搅拌包含颗粒的待检测样品，搅拌动作执行完成后，电控装置控制伸缩杆收起至箱体顶端。 7.如权利要求3所述的颗粒检测装置，其特征在于，所述第一偏振分光棱镜、第一扩束透镜、第一准直透镜和光源的发射光线位于同一水平线；所述第二偏振分光棱镜、第二扩束透镜和第二准直透镜位于同一水平线；所述第一偏振分光棱镜和所述第二偏振分光棱镜位于同一高度并位于不同水平线。 8.如权利要求1至7任一项所述的颗粒检测装置，其特征在于，所述箱体顶部设置有开口，所述开口位于所述样品放置单元和所述对比单元上方。 9.如权利要求1至7任一项所述的颗粒检测装置，其特征在于，还包括：分析处理单元，与所述图像采集单元连接，用于根据所述第一衍射图像和第二衍射图像分析得到颗粒检测结果；显示单元，用于显示所述颗粒检测结果。 10.如权利要求9所述的颗粒检测装置，其特征在于，所述分析处理单元包括FPGA，所述FPGA数据接收口通过数据传输线与图像采集单元相连；所述显示单元包括LCD，LCD通过数据传输线连接所述FPGA的数据出口。
所属类别：	实用新型