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原文传递 一种基于顺磁位移的磁纳米粒子浓度与温度方法
专利名称: 一种基于顺磁位移的磁纳米粒子浓度与温度方法
摘要: 本发明公开了一种基于顺磁位移的磁纳米粒子浓度与温度方法,利用核磁共振设备通过测量含顺磁性颗粒的液体样品化学位移来进行磁纳米粒子浓度及温度测量,有效实现高测量精度的浓度与温度测量。在核磁共振样品试剂中添加顺磁性磁纳米粒子,通过核磁共振得到样品的顺磁位移。利用顺磁位移获取共振频率,依照共振频率与磁纳米粒子磁化率的关系获取磁化率,进一步根据磁纳米粒子磁化率与浓度、温度的关系反解样品浓度信息及温度信息。从仿真数据来看,利用顺磁位移信息可以有效地实现磁纳米粒子样品的浓度测量以及高精度温度测量。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 华中科技大学
发明人: 刘文中;郭斯琳
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810905464.5
公开号: CN108663391A
代理机构: 华中科技大学专利中心 42201
代理人: 李智;曹葆青
分类号: G01N24/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N24;G01N24/08
申请人地址: 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
主权项: 1.一种基于顺磁位移的磁纳米粒子浓度与温度方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将磁纳米样品添加入待测实验试剂中;(2)将未含磁纳米粒子的纯试剂和含磁纳米粒子的实验试剂和放入均匀磁场磁场强度为H0的核磁共振设备中,分别检测得到纯试剂和实验试剂的共振吸收峰的位移,即化学位移δR和δS;(3)分别依据纯试剂和实验试剂的化学位移δR和δS,求解得到纯试剂和实验试剂的共振频率υR和υS;(4)将纯试剂和实验试剂的共振频率υR和υS代入磁纳米粒子磁化率计算公式其中,χS为磁纳米粒子磁化率;当样品方向与磁场方向垂直时,α=2π;当样品方向与磁场方向平行时,α=0;(5)构建磁纳米粒子在静磁场激励下其磁化强度与温度敏感特性方程式其中Ms为磁纳米粒子饱和磁化强度,N为磁纳米样品浓度,V为磁纳米粒子体积,H为激励磁场强度,k为波尔兹曼常数,T为温度;(6)改变磁场磁场强度H0,按照步骤(2)‑(5)的方式构建多个磁纳米粒子在静磁场激励下其磁化强度与温度敏感特性方程式,联立获取磁纳米粒子浓度N及温度T。
所属类别: 发明专利
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