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一种快速、简单测量固体孔隙率的方法
| 专利名称： | 一种快速、简单测量固体孔隙率的方法 |
| 摘要： | 一种快速、简单测量固体孔隙率的方法，属于固体孔隙率测量领域。有孔固体是在各行业应用很广。本发明孔隙率定义为固体块样内部孔的体积占固体体积的百分率，测量原理是基于固体块样在测量溶剂中浸泡前后溶剂体积的变换不同而得出的。由于固体孔隙率对固体性能影响大，因此，固体孔隙率测量很重要。目前，一些仪器的方法用于测量固体内部孔径大小和分布以及孔隙率，但是测量时间往往要几个小时以上，而且测量成本高。为解决以上难题，本发明提供了一种测量固体孔隙率的方法。整个固体孔隙率测量时间一般不超过5分钟，快速、简单、成本低。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京科技大学 |
| 发明人： | 沈少波 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810717070.7 |
| 公开号： | CN109030308A |
| 代理机构： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 |
| 代理人： | 张仲波 |
| 分类号： | G01N15/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/08 |
| 申请人地址： | 100083 北京市海淀区学院路30号 |
| 主权项： | 1.一种快速、简单测量固体孔隙率的方法，其包括以下步骤：1)根据固体A最大径向长度选择一个带有体积刻度的量筒，能将固体A放入量筒中；将液体溶剂B加入量筒中，记下溶剂体积V1，溶剂B的体积应能完全淹没待测固体A；2)将待测固体A用很薄的膜，紧贴着固体表面包裹固体，使得外部溶剂在测量时间内不会接触内部固体，多余膜用工具去除；将上述有包裹膜的固体放入溶剂B中，记下此时量筒内体积V2；3)将上述有包裹膜的固体A从溶剂B中取出，将外部包裹膜从固体上剥下，留下固体A；将剥下的包裹膜放入原先有溶剂B的量筒内，记下此时量筒内体积V3；4)再将原先除去包裹膜的固体A也放入有溶剂B的量筒内，在一定时间后吸附达到平衡，量筒内液面体积示数不变，记下此时量筒内体积V4；孔隙率K％定义为固体块样内部孔的体积占固体体积的百分率，则K％＝(V2－V4)×100/(V2－V3)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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