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一种土体最小孔隙率的测量方法及土体最小孔隙率测量仪
| 专利名称： | 一种土体最小孔隙率的测量方法及土体最小孔隙率测量仪 |
| 摘要： | 一种土体最小孔隙率的测量方法及土体最小孔隙率测量仪，涉及测量试验领域。土体最小孔隙率的测量方法是在盒体里装入烘干土体；使盒体绕竖直方向自转，并多次敲打盒体的外壁，直至盒体内的土体高度恒定，测量盒体内土体的恒定高度；根据土体质量和恒定高度、盒体的内腔形状计算土体最小孔隙率。土体最小孔隙率测量仪包括用于盛放土体的盒体，盒体能够绕竖直方向自转；盒体的一侧设置有用于敲打盒体外壁的敲打器，以及用于测量盒体内土体高度的高度测量器。本发明实施例的目的在于提供一种土体最小孔隙率的测量方法及土体最小孔隙率测量仪，其能够减少人工干预，可操作性强，同时保证试验精度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 中国科学院武汉岩土力学研究所 |
| 发明人： | 江强强;焦玉勇;佘慧;王浩;陈舞;王成汤;谢壁婷 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811621590.4 |
| 公开号： | CN109357990A |
| 代理机构： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 |
| 代理人： | 吕露 |
| 分类号： | G01N15/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 430000 湖北省武汉市武昌区小洪山中国科学院武汉岩土力学研究所 |
| 主权项： | 1.一种土体最小孔隙率的测量方法，其特征在于，其包括以下步骤：在盒体里装入一定质量、烘干的土体，使所述盒体绕竖直方向自转，并多次敲打所述盒体的外壁，直至所述盒体内的土体高度恒定，测量所述盒体内土体的恒定高度；根据所述土体质量和所述恒定高度、所述盒体的内腔形状计算土体最小孔隙率。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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