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原文传递光路调试方法

专利名称：	光路调试方法
摘要：	本发明公开了光路调试方法，包括光谱仪本体和调试步骤，所述光谱仪本体内腔的左侧固定连接有光栅，所述光栅内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜，所述光谱仪本体内腔右侧的底部固定连接有准直镜，所述聚焦镜和准直镜镜面与光栅相对，所述光谱仪本体左侧的底部设置有入射夹缝，所述入射夹缝的左侧设置有镜筒，所述光谱仪本体左侧的顶部设置有出射夹缝。本发明通过现光谱仪本体、光栅、聚焦镜、准直镜、入射夹缝、镜筒、出射夹缝、探测器、石英透镜、准直镜光斑中心和基准线的配合使用，能够方便地把Czerny‑Turner型光路单色器的光路和色带调平，有效地将入射狭缝精确地成像在出射狭缝处，并且像质很好，保证单色器具有良好的分辨能力。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州博维仪器科技有限公司
发明人：	王少勇;顾建峰;董殿永
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810874164.5
公开号：	CN109030360A
分类号：	G01N21/01(2006.01)I;G01N21/73(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/73
申请人地址：	215300 江苏省苏州市昆山市千灯镇圣祥东路168号
主权项：	1.光路调试方法，包括光谱仪本体(1)和调试步骤，其特征在于：所述光谱仪本体(1)内腔的左侧固定连接有光栅(2)，所述光栅(2)内腔右侧的顶部固定连接有聚焦镜(3)，所述光谱仪本体(1)内腔右侧的底部固定连接有准直镜(4)，所述聚焦镜(3)和准直镜(4)镜面与光栅(2)相对，所述光谱仪本体(1)左侧的底部设置有入射夹缝(5)，所述入射夹缝(5)的左侧设置有镜筒(6)，所述光谱仪本体(1)左侧的顶部设置有出射夹缝(7)，所述出射夹缝(7)的左侧设置有探测器(8)，所述探测器(8)的底部与光谱仪本体(1)固定连接；所述光谱仪本体(1)包括石英透镜(9)，所述石英透镜(9)与准直镜(4)相对，所述光栅(2)和镜筒(6)之间设置有准直镜光斑中心(10)，所述光栅(2)、准直镜光斑中心(10)和镜筒(6)的中心处设置有基准线(11)。调试步骤如下：步骤一：布置基准线：以两夹缝中心连线作为基准线；步骤二：调平准直镜；在入射狭缝处放置粗狭缝，钨灯光线经过镜筒照亮粗入射狭缝后照满准直镜，调整准直镜，将其所成光斑中心与基准线重合；步骤三：调平光栅：装上光栅，转动光栅，光线经光栅反射重新照在准直镜上，聚焦在入射夹缝附近，通过调整光栅使光栅零级光斑中心与基准线重合；步骤四：调平聚焦：转动光栅，光线经光栅反射打在聚焦镜上后成像在出射夹缝附近，通过调整聚焦镜使其所成光斑中心与基准线重合；步骤五：调平色带：转动光栅，让衍射色带出现在夹缝附近，通过调整光栅使色带中心与基准线重合；步骤六：安装入射夹缝：换用笔形汞灯，通过镜筒成像再入射在夹缝，用显微镜在出射夹缝处观察成像情况，调整显微镜看到清晰的入射夹缝像，固定细夹缝；步骤七：调焦：在出射夹缝放置粗夹缝，转动光栅，让零级光出现在粗夹缝中，用显微镜观察成像情况，判断入射夹缝所成像与粗夹缝的相对位置，细入射夹缝的角度为15度，粗入射夹缝的角度为20度；步骤八：安装出射夹缝：出射狭缝处换用细狭缝，用显微镜观察，调整细狭缝，使其对准入射狭缝所成的像，固定出射狭缝。
所属类别：	发明专利