专利名称: |
一种光路调试装置以及太赫兹光谱仪 |
摘要: |
本实用新型提供了一种光路调试装置以及太赫兹光谱仪,用于调试第一作业光线与第二作业光线的重合,包括光路形成组件以及光路调试组件,光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件,光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔,光路调试组件包括第一调光件、第二调光件、第一观察片和第二观察片,通过调整第一反射件、第二反射件分别与第一作业光线、第二作业光线的入射角度,并且通过第一观察片与第二观察片上是否具有光斑从而确认第一作业光线与第二作业光线是否重合,提高了判断两路对光光线是否重合的准确性。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司 |
发明人: |
赵洪美;丁庆 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-12-28T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-05T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201822238320.7 |
公开号: |
CN209589814U |
代理机构: |
深圳中一专利商标事务所 |
代理人: |
高星 |
分类号: |
G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东 |
主权项: |
1.一种光路调试装置,用于调试第一作业光线和第二作业光线的重合,其特征在于,包括光路形成组件以及光路调试组件,所述光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件,所述第一反射件和所述第二反射件均位于所述光路限制板同一板侧,所述光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔,所述第一通光孔供所述第一作业光线穿过并射至所述第一反射光线,所述第一反射件用于将所述第一作业光线反射至所述第二反射件,所述第二反射件用于将所述第二作业光线反射至所述第一反射件,所述第一反射件还用于将经所述第二反射件反射的所述第二作业光线反射至所述第一通光孔,所述第二反射件还用于将经所述第一反射件反射的所述第一作业光线反射至所述第二通光孔,所述光路调试组件包括第一调光件、第二调光件、第一观察片和第二观察片,所述第一调光件位于所述第一反射件和第二反射件之间,所述第一调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第一调光孔,所述第二调光件位于所述第一调光件和所述第二反射件之间,所述第二调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第二调光孔,所述第一观察片用于在调试所述第二作业光线时位于所述第一反射件和所述第一调光件之间,而在调试所述第一作业光线时则从所述第一反射件和所述第一调光件之间抽离,所述第二观察片用于在调试所述第一作业光线时位于所述第二反射件和所述第二调光件之间,而在调试所述第二作业光线时则从所述第二反射件和所述第二调光件之间抽离。 2.如权利要求1所述的光路调试装置,其特征在于,所述光路形成组件还包括与所述光路限制板相对设置的安装固定板,所述光路调试组件、所述第一反射件和所述第二反射件均位于所述光路限制板和所述安装固定板之间,所述第一调光件和所述第二调光件均抵接至所述光路限制板,所述第一调光件和所述第二调光件均抵接至所述安装固定板。 3.如权利要求2所述的光路调试装置,其特征在于,所述光路限制板与所述安装固定板平行设置。 4.如权利要求2所述的光路调试装置,其特征在于,所述光路形成组件还包括一个用于连接光路限制板和安装固定板的光路形成连接板。 5.如权利要求4所述的光路调试装置,其特征在于,所述光路形成连接板设有两个,所述光路调试组件、所述第一反射件和所述第二反射件均位于两所述光路形成连接板之间。 6.如权利要求4所述的光路调试装置,其特征在于,所述光路限制板、所述安装固定板与各所述光路形成连接板一体结构。 7.如权利要求1所述的光路调试装置,其特征在于,所述光路调试组件还包括至少一个用于连接所述第一调光件和所述第二调光件的光路调试连接板。 8.如权利要求7所述的光路调试装置,其特征在于,所述光路调试连接板设有两个。 9.如权利要求1至8中任一项所述的光路调试装置,其特征在于,所述第一通光孔和所述第二通光孔的开设方向垂直于所述光路限制板的板面,所述第一调光孔和所述第二调光孔的开设方向平行于所述光路限制板的板面。 10.一种太赫兹光谱仪,包括权利要求1-9任一条所述的光路调试装置。 |
所属类别: |
实用新型 |