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一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法
| 专利名称： | 一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法 |
| 摘要： | 本发明提供了一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，涉及大气颗粒物源解析领域。该方法结合了KNN分类器和CMB源解析模型，充分利用了污染源的单颗粒质谱信息和环境受体单颗粒质谱特征以及粒径信息，能够快速求解出颗粒物一次排放源及二次排放源对单个环境受体颗粒的贡献，并可获得高时间分辨率和高粒径分辨率的精细化源解析结果，具有良好的推广应用前景。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 南开大学 |
| 发明人： | 冯银厂;徐娇;史国良;王玮 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810435064.2 |
| 公开号： | CN108680473A |
| 代理机构： | 天津耀达律师事务所 12223 |
| 代理人： | 张耀 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G01N15/06(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I;G;G01;G06;G01N;G06K;G01N15;G06K9;G01N15/02;G01N15/06;G06K9/62 |
| 申请人地址： | 300071 天津市南开区卫津路94号 |
| 主权项： | 1.一种应用单颗粒气溶胶质谱仪进行颗粒物源解析的方法，其特征在于所述方法包括：第1步、构建污染源单颗粒质谱综合谱库；第2步、找到某环境受体单颗粒X所属污染源范围P；第3步、进一步分析环境受体单颗粒X所属污染源P中的特征Pi；第4步、求解Pi和二次源对环境受体单颗粒X的贡献值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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