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一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法
| 专利名称： | 一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法，包括：S1，通过统计学中位数的方法对已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正；S2，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比；S3，根据所述精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正。本发明通过统计的方法已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比；进一步可以根据精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正，可提高质量精度，实现更精细化的质量分辨，提高颗粒成分识别准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 暨南大学 |
| 发明人： | 李磊;杜绪兵;黄正旭;高伟;李梅;周振 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 1900-01-20T00:00:00+0805 |
| 发布日期： | 1900-01-20T03:00:00+0805 |
| 申请号： | CN201911388897.9 |
| 公开号： | CN110954449A |
| 代理机构： | 广州市华学知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 雷芬芬 |
| 分类号： | G01N15/00;G01N15/02;G01N27/62;G06F17/18;G;G01;G06;G01N;G06F;G01N15;G01N27;G06F17;G01N15/00;G01N15/02;G01N27/62;G06F17/18 |
| 申请人地址： | 510632 广东省广州市天河区黄埔大道西601号 |
| 主权项： | 1.一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法，其特征在于，包括： S1，通过统计学中位数的方法对已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正； S2，根据初级飞行时间谱校正的结果，确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比； S3，根据所述精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正。 2.根据权利要求1所述的单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法，其特征在于，步骤S1包括： 获取已知颗粒的K个同种颗粒的飞行时间谱，根据飞行时间谱得到n个特征谱峰的飞行时间分布根据所述特征谱峰的飞行时间分布依次得到飞行时间的中位数K＞2； 根据校正方程对数据和进行拟合，得到基本校正方程。 3.根据权利要求2所述的单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法，其特征在于，步骤S2包括： 根据所述基本校正方程得到单个采样颗粒的基本特征谱峰，根据单个采样颗粒的基本特征谱峰确定单个采样颗粒的种类和所属种类对应的特征飞行时间谱；根据所述采样颗粒的种类获得采样颗粒的主要特征谱峰的精确质荷比。 4.根据权利要求3所述的单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法，其特征在于，步骤S3包括： 将采样颗粒的精确质荷比和对应的飞行时间利用校正方程进行拟合，得到单个颗粒的飞行时间谱校正方程，并根据所述飞行时间谱校正方程对采样颗粒进行质量校正，得到最终校正结果。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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