原文传递
一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法
| 专利名称： | 一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法 |
| 摘要： | 本发明属于大气环境科学领域，涉及一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法。所述方法包括以下步骤：一个前期线性拟合步骤和一个实时测量步骤，主要采用打击率校正后的峰面积总和与实际测得的大气颗粒质量浓度进行线性拟合，得到较好的线性关系，根据该线性关系，可以在SPAMS检测后，通过打击率校正后的峰面积总和计算获得颗粒物质量浓度，实现SPAMS定量分析测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 中国科学院城市环境研究所 |
| 发明人： | 肖航;蔡秋亮;佟磊;李建荣;林佳梅;易辉 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-01-17T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-10T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910043196.5 |
| 公开号： | CN109738345A |
| 代理机构： | 宁波智翔专利代理有限公司 |
| 代理人： | 贺珠平 |
| 分类号： | G01N15/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 361021 福建省厦门市集美区集美大道1799号 |
| 主权项： | 1.一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 一个前期线性拟合步骤：环境中的颗粒物进入单颗粒气溶胶质谱仪，并在空气动力学透镜的作用下，颗粒物汇聚为单个颗粒束，逐一进入测径区，通过双激光测径系统得到颗粒的粒径大小；部分测径后的颗粒逐一被电离，电离产生的正负离子经双极飞行时间质量分析器检测，得到电离颗粒的质谱图；分析粒径段内单位时间颗粒质谱图中的峰面积总和，经打击率校正后，得到粒径段内校正后的单位时间峰面积总和；将粒径段内校正后的单位时间峰面积总和与实际测定的相应粒径段内单位时间平均质量浓度进行线性拟合，得到线性关系； 一个实时测量步骤：环境中的颗粒物进入单颗粒气溶胶质谱仪，并在空气动力学透镜的作用下，颗粒物汇聚为单个颗粒束，逐一进入测径区，通过双激光测径系统得到颗粒的粒径大小及分布；部分测径后的颗粒逐一被电离，电离产生的正负离子经双极飞行时间质量分析器检测，得到电离颗粒的质谱图；分析粒径段内单位时间颗粒质谱图中的峰面积总和，经打击率校正后，得到粒径段内校正后的单位时间峰面积总和；根据上述线性关系，计算获得相应粒径段内颗粒质量浓度。 2.根据权利要求1所述的一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法，其特征在于，所述打击率校正公式如下： 其中，CPA：校正后的单位时间峰面积总和，HRi：i时间平均击打率,PAi：i时间峰面积总和。 3.根据权利要求1所述的一种单颗粒气溶胶实时定量分析方法，其特征在于，所述粒径段为PM2.5和/或PM1.0。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
