专利名称: |
利用共振瑞利散射光谱法测定表皮生长因子受体浓度方法 |
摘要: |
本发明涉及表皮生长因子受体检测领域。利用共振瑞利散射光谱法测定表皮生长因子受体浓度方法,通过多次试验数据,建立共振瑞利散射峰强度值差ΔI为纵坐标,表皮生长因子受体EGFR浓度c为横坐标关系图,利用线性回归法获得表皮生长因子受体EGFR共振瑞利散射峰强度值差ΔI和表皮生长因子受体EGFR浓度c的线性方程ΔI=11.87c+586.2,测定待测表皮生长因子受体的共振瑞利散射峰强度值差ΔI样=I样‑I0,代入线性方程ΔI样=11.87c样+586.2中,获得待测表皮生长因子受体EGFR浓度c样。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
山西;14 |
申请人: |
长治医学院 |
发明人: |
李俊波;王静华;张鑫鑫;常宏宏;魏文珑 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810324395.9 |
公开号: |
CN108680533A |
代理机构: |
太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 |
代理人: |
李富元 |
分类号: |
G01N21/47(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/47 |
申请人地址: |
046000 山西省长治市城区解放东街161号 |
主权项: |
1.利用共振瑞利散射光谱法测定表皮生长因子受体浓度方法,其特征在于:按照如下的步骤进行步骤一、通过多次试验数据,建立共振瑞利散射峰强度值差ΔI为纵坐标,表皮生长因子受体EGFR浓度c为横坐标关系图,利用线性回归法获得表皮生长因子受体EGFR共振瑞利散射峰强度值差ΔI和表皮生长因子受体EGFR浓度c的线性方程ΔI=11.87c+586.2;步骤二、将待测表皮生长因子受体1mL加入到第一试管中,然后在第一试管中加入0.11nmol/L Apt‑AuNP‑Ab溶液1.0mL,最后用pH7.4 磷酸盐缓冲溶液定容第一试管至5.0mL,混匀,静置20min,将第一试管的的溶液置于比色皿中,在荧光分光光度计上,同步扫描激发波长和发射波长,获得体系的共振瑞利散射光谱,测定体系最大散射波长312nm处待测表皮生长因子受体的共振瑞利散射峰强度值I样,将0.11nmol/L Apt‑AuNP‑Ab溶液1.0mL加入到第二试管中,然后用pH7.4 磷酸盐缓冲溶液定容第一试管至5.0mL,混匀,静置20min,将第一试管的的溶液置于比色皿中,在荧光分光光度计上,同步扫描激发波长和发射波长,获得体系的共振瑞利散射光谱,测定体系最大散射波长312nm处空白对照溶液的共振瑞利散射峰强度值I0,待测表皮生长因子受体EGFR共振瑞利散射峰强度值差ΔI样=I样‑ I0,代入线性方程ΔI样=11.87c样+586.2中,获得待测表皮生长因子受体EGFR浓度c样。 |
所属类别: |
发明专利 |