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超声波探伤装置、超声波探伤方法以及产品的制造方法
| 专利名称： | 超声波探伤装置、超声波探伤方法以及产品的制造方法 |
| 摘要： | 在超声波探伤装置(10)中具备：阵列探头(34)，具备能够针对检查对象(35)分别收发超声波的多个压电元件(33)；元件群定义部(16)，定义元件群(13)并运算超声波束的传输路径；延迟时间计算部(11)，计算构成元件群(13)的压电元件(33)的各自的延迟时间(21)；以及合成信号生成部(31)，基于延迟时间(21)将检测信号(25)合成，而生成为与具有传输路径的超声波束有关的合成信号。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 株式会社东芝;东芝能源系统株式会社 |
| 发明人： | 山本摄;菅原梓;千星淳;土桥健太郎;星岳志;大塚优 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810244623.1 |
| 公开号： | CN108693254A |
| 代理机构： | 永新专利商标代理有限公司 72002 |
| 代理人： | 刘英华 |
| 分类号： | G01N29/07(2006.01)I;G01N29/44(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/07;G01N29/44 |
| 申请人地址： | 日本东京都 |
| 主权项： | 1.一种超声波探伤装置，其特征在于，具备：阵列探头，具备能够针对检查对象分别收发超声波的多个压电元件；元件群定义部，从构成上述阵列探头的多个压电元件中将连续的多个上述压电元件定义为元件群，基于构成该元件群的多个上述压电元件的配置信息及上述压电元件的各自的加权，设定该元件群的基准位置，基于上述基准位置及预先确定的探伤角，运算来自该元件群的超声波束的传输路径；计算部，以来自上述元件群的上述超声波束成为上述传输路径的方式，计算构成上述元件群的上述压电元件的各自的延迟时间；信号接收部，接收由上述压电元件各自接收到的上述超声波作为检测信号；以及生成部，基于上述延迟时间将上述检测信号合成，而生成为与具有上述传输路径的上述超声波束有关的合成信号。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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