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线性扫描超声波探伤装置及线性扫描超声波探伤方法
| 专利名称： | 线性扫描超声波探伤装置及线性扫描超声波探伤方法 |
| 摘要： | 根据实施方式，一种线性扫描超声波探伤装置包括：超声波阵列探头，其具有在第一方向上对齐的多个超声波元件；延迟时间运算部，被配置为参考检查对象的表面形状，计算发送和接收超声波中的至少一个的延迟时间的值；重叠区域调整器，被配置为设置用于生成重叠区域的图像的条件；以及集成图像生成部，被配置为生成包括重叠区域的区域的第一图像数据。重叠区域调整部被配置为在计算第一探头设置位置或第二探头设置位置处的延迟时间的值时将要参考延迟时间运算部的表面形状的条件设置为在第一探头设置位置处获得的第一获取形状和在第二探头设置位置处获得的第二获取形状。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 株式会社东芝;东芝能源系统株式会社 |
| 发明人： | 山本摄;菅原梓;千星淳;土桥健太郎;大塚优 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810972529.8 |
| 公开号： | CN109425657A |
| 代理机构： | 永新专利商标代理有限公司 72002 |
| 代理人： | 徐殿军 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 日本东京都 |
| 主权项： | 1.一种线性扫描超声波探伤装置，包括：超声波阵列探头，具有在第一方向上排列的多个超声波元件，所述超声波元件中的每个超声波元件在检查对象中发送和接收超声波；延迟时间运算部，参考所述检查对象的表面形状，计算利用所述超声波元件中的每个超声波元件发送和接收所述超声波中的至少一个动作时的延迟时间的值；重叠区域调整部，设置用于在所述超声波阵列探头的第一探头设置位置与第二探头设置位置之间生成重叠区域的图像的条件，所述第二探头设置位置在所述第一方向上从所述第一探头设置位置偏移；和集成图像生成部，生成包括所述重叠区域的区域的第一图像数据，所述第一图像数据在所述检查对象的第一方向和深度方向上扩展，其中，所述重叠区域调整部将所述延迟时间运算部在计算所述第一探头设置位置或第二探头设置位置处的延迟时间的值时要参考的表面形状的条件，设置为在所述第一探头设置位置处获得的第一获取形状和在所述第二探头设置位置处获得的第二获取形状两者。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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