当前位置: 首页> 交通专利数据库 >详情
原文传递 针对M.2固态硬盘压拉测试的电压控制系统
专利名称: 针对M.2固态硬盘压拉测试的电压控制系统
摘要: 本发明公开了针对M.2固态硬盘压拉测试的电压控制系统,包括主控模块、信号转接模块、串口通讯模块、电源管理模块、采样模块、温度检测模块、LED控制模块,本发明采用独创的针对M.2的快速、精准、动态的电压补偿方法进行多通道并行控制,从而实现一种专门针对M.2固态硬盘的高密度,多通道独立控制的压拉测试系统,从而达到企业级固态硬盘压拉测试标准的需求。避免了企业级固态硬盘,特别是企业级M.2固态硬盘测试过程中,因为其低电压、高功耗等特点,在业界进行压拉测试的时候测试过程误差大、过程漫长,导致成本偏高。并且考虑到成本优化,在同一个测试系统里可以同时对多个M.2待测单元进行稳定的并行精准压拉测试。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 江苏;32
申请人: 苏州勃朗特半导体存储技术有限公司
发明人: 江强
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810688843.3
公开号: CN109060522A
代理机构: 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548
代理人: 李静
分类号: G01N3/08(2006.01)I;G01M13/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01M;G01N3;G01M13;G01N3/08;G01M13/00
申请人地址: 215000 江苏省苏州市吴中区吴中大道2588号18栋
主权项: 1.针对M.2固态硬盘压拉测试的电压控制系统,包括主控模块、信号转接模块、串口通讯模块、电源管理模块、采样模块、温度检测模块、LED控制模块,其特征在于电源管理模块通过干扰DC controller feedback,将输入电压转换成待测试硬盘所需要的电压,采样模块对待测试硬盘进行采样后由主控模块内置的ADC进行数据处理分析,信号转接模块将PCIE信号从Slim SAS 连接器接入,再转接到串口通讯模块,和待测试硬盘进行数据交换,采样模块采用ADC采样,温度检测模块与主控模块、串口通讯模块连接,LED控制模块与主控模块、串口通讯模块连接,LED控制模块通过LED驱动芯片来控制LED,模拟SSD待测试硬盘测试时的状态,并用于感应待测试硬盘是否安装到位,主控模块用于电压通道控制、ADC采样、RS232通讯、SPI总线通讯、GPIO的控制,电源管理模块为主控模块、信号转接模块、串口通讯模块、采样模块、温度检测模块、LED控制模块供电。
所属类别: 发明专利
检索历史
应用推荐