专利名称: |
一种薄膜晶体管及其制备方法、传感器 |
摘要: |
本申请提供了一种薄膜晶体管及其制备方法、传感器,其中薄膜晶体管包括衬底以及设置在所述衬底上的栅极、栅极绝缘层、源极、漏极以及有源层;其中,所述有源层内设置有微通道,所述薄膜晶体管用于对所述微通道内的样品进行检测。本申请技术方案通过在薄膜晶体管TFT的有源层内设置微通道,当待测样品进入微通道时,会影响有源层内的电子分布状况,引起TFT特性的波动,通过检测TFT特性的波动,可以达到对待测液体的成分和性质检测的技术效果。并且,借助微通道,可以对其中的样品进行精密控制,一方面减小外界环境的影响,提升检测精度;另一方面可以实现对样品进行持续监控,而非一次性检测,提高样品检测效率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人: |
马啸尘;袁广才;宁策;胡合合;谷新 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810878941.3 |
公开号: |
CN109060922A |
代理机构: |
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 |
代理人: |
莎日娜 |
分类号: |
G01N27/414(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)N;G;H;G01;H01;G01N;H01L;G01N27;H01L29;G01N27/414;H01L29/786 |
申请人地址: |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |
主权项: |
1.一种薄膜晶体管,其特征在于,包括衬底以及设置在所述衬底上的栅极、栅极绝缘层、源极、漏极以及有源层;其中,所述有源层内设置有微通道,所述薄膜晶体管用于对所述微通道内的样品进行检测。 |
所属类别: |
发明专利 |