专利名称: |
一种聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法 |
摘要: |
本发明涉及一种聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法。该方法将聚碳硅烷样品进行热处理,使之形成凝胶体,再与熔融碱在一定条件下反应,将反应产物调配成中性待测溶液,然后将待测试液引入电感耦合等离子体发射光谱仪中,测定硅元素的谱线强度,然后与硅元素的谱线强度‑质量分数标准工作曲线进行比对,得到待测试液中硅元素的含量,再换算为聚碳硅烷中硅元素的含量。该方法简单易行,测定精度高。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
浙江;33 |
申请人: |
中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
发明人: |
莫高明;何流;黄庆;段杨鹏;陈海俊 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810937524.1 |
公开号: |
CN109060773A |
代理机构: |
宁波元为知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33291 |
代理人: |
单英 |
分类号: |
G01N21/73(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/73 |
申请人地址: |
315201 浙江省宁波市镇海区中官西路1219号 |
主权项: |
1.一种聚碳硅烷中硅含量的简便测定方法,其特征是:包括如下步骤:(1)将聚碳硅烷样品进行热处理,使之形成凝胶体;(2)将聚碳硅烷凝胶体与熔融的碱类化合物反应,得到含硅酸盐的混合物;将混合物用去离子水溶解,得到澄清溶液,用酸性物质调至溶液呈中性,然后用去离子水稀释至溶液质量为聚碳硅烷质量的105‑106倍,得到待测试液;(3)将待测试液引入电感耦合等离子体发射光谱仪中,测定硅元素的谱线强度,然后与硅元素标准工作曲线进行比对,得到待测试液中硅元素的含量,再换算为聚碳硅烷中硅元素的含量;所述硅元素标准工作曲线的测定方法为:称取一定量的硅元素的标准溶液放入不同体积的容量瓶中,加入去离子水定容,得到一系列具有不同硅浓度的溶液,其中硅的浓度为1ppm‑100ppm;将该不同硅浓度的溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪中进行测定,得到硅元素的谱线强度‑质量分数标准工作曲线。 |
所属类别: |
发明专利 |