专利名称: |
偏光片检测装置 |
摘要: |
本实用新型公开了一种偏光片检测装置,包括第一光源、偏光组件、分光镜及第二光源,偏光组件与第一光源间隔的设置于同一直线上,待检测的偏光片设置于偏光组件与第一光源之间,偏光组件的偏光轴与该待检测的偏光片的偏光轴相垂直,待检测的偏光片对该第一光源输出的光进行偏光而产生一与偏光片的偏光轴平行的偏极光,存在该待检测的偏光片上的膜内纤维或膜外刮伤改变该偏极光的方向,使得该偏极光的平行于该偏光组件的偏光轴的分量通过该偏光组件。上述偏光片检测装置可通过显示器观察到膜内纤维及膜外刮伤,还可以分辨两者。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市国顺半导体有限公司 |
发明人: |
潘建国;潘化强;向承林;刘旭;杨俊 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820304647.7 |
公开号: |
CN208026650U |
分类号: |
G01N21/95(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95 |
申请人地址: |
518000 广东省深圳市宝安区前进二路园艺园工业区26栋3楼 |
主权项: |
1.一种偏光片检测装置,用于检测待检测的偏光片,其特征在于:所述偏光片检测装置包括第一光源、偏光组件、分光镜及第二光源,所述偏光组件与第一光源间隔的设置于同一直线上,所述待检测的偏光片设置于偏光组件与第一光源之间,所述偏光组件的偏光轴与该待检测的偏光片的偏光轴相垂直,所述待检测的偏光片对该第一光源输出的光进行偏光而产生一与偏光片的偏光轴平行的偏极光,存在该待检测的偏光片上的膜内纤维或膜外刮伤改变该偏极光的方向,使得该偏极光的平行于该偏光组件的偏光轴的分量通过该偏光组件;所述分光镜与偏光组件间隔设置,且分光镜位于偏光组件上远离第一光源的一侧,所述第二光源靠近分光镜设置,且所述第二光源与偏光组件和第一光源不位于同一直线上,所述第二光源输出的光经由该分光镜分光后,部分朝向该偏光组件的方向传输至该待检测的偏光片,以使得存在该待检测的偏光片上的膜内纤维反射此光线而膜外刮伤不反射此光线。 |
所属类别: |
实用新型 |