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基于曲面拟合校正的柑橘表面缺陷检测方法、计算机程序
| 专利名称： | 基于曲面拟合校正的柑橘表面缺陷检测方法、计算机程序 |
| 摘要： | 本发明属于计算机软件技术领域，公开了一种基于曲面拟合校正的柑橘表面缺陷检测方法、计算机程序，包括：图像获取、背景去除、掩膜提取、柑橘图像提取、曲面拟合、异常点去除、再次曲面拟合、图像校正、缺陷提取。本发明针对不规则类球体柑橘表面缺陷区域灰度受果形、光照等影响，与正常区域亮度交叉、不连续的复杂情况，充分考虑果实表面形状变化，通过曲面拟合校正，自适应完成图像灰度回归和校正，采用全局阈值分割法就可检测到柑橘表面缺陷。本发明方法简单实用，在柑橘及其他类球形水果表面缺陷机器视觉检测具有应用前景。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;50 |
| 申请人： | 西南大学 |
| 发明人： | 吕强;孙荣荣;邓烈;何绍兰;易时来;郑永强;谢让金;马岩岩 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810919188.8 |
| 公开号： | CN109060842A |
| 代理机构： | 重庆市信立达专利代理事务所(普通合伙) 50230 |
| 代理人： | 包晓静 |
| 分类号： | G01N21/956(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/956 |
| 申请人地址： | 400715 重庆市北碚区天生路2号 |
| 主权项： | 1.一种基于曲面拟合校正的柑橘表面缺陷检测方法，其特征在于，所述基于曲面拟合校正的柑橘表面缺陷检测方法对柑橘彩色图像的R‑B分量差图像I，采用全局阈值法分割得到二值图像，再利用形态学方法提取柑橘区域二值掩膜图像M；将M图像与初始图像的红色分量图像R进行逐个像素相乘得到柑橘红色分量图像R1；对柑橘区域以像素位置为坐标，对R1图像灰度值建立曲面拟合方程，得到柑橘R1分量拟合回归图像R2，计算回归残差；设置残差阈值T，将柑橘红色分量图像R1中残差小于T的像素作为异常点剔除，得到图像R3，重新进行曲面拟合，得到回归图像R4；柑橘红色分量图像R1除以回归图像R4，再乘以R4最大灰度值，得到亮度校正图像R5；对亮度校正图像R5进行阈值分割二值化，并通过形态学处理获得柑橘表面缺陷图像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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