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原文传递一种半导体高倍放大镜检测设备

专利名称：	一种半导体高倍放大镜检测设备
摘要：	本实用新型公开了一种半导体高倍放大镜检测设备，包括底座和设置在所述底座上的检测台，所述检测台上设置有夹持机构，所述底座上相邻检测台设置有伸缩机构，所述伸缩机构沿垂直于底座的方向上、下伸缩设置，所述伸缩机构的端部阻尼铰接设置有支撑杆，所述支撑杆伸向检测台，所述支撑杆的端部设置有高倍放大镜，所述高倍放大镜位于检测台的上方；所述伸缩机构的底部设置有滑动位移机构，所述伸缩机构通过滑动位移机构向检测台滑动位移设置。本实用新型提供一种半导体高倍放大镜检测设备，方便观察及发现半导体零件上的缺陷，结构简单，使用方便。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	无锡升滕半导体技术有限公司
发明人：	孙德付
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201820387191.5
公开号：	CN208043702U
代理机构：	无锡松禾知识产权代理事务所(普通合伙) 32316
代理人：	段小丽
分类号：	G01N21/95(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95;G01N21/01
申请人地址：	214000 江苏省无锡市新吴区天安智慧城A1-B705
主权项：	1.一种半导体高倍放大镜检测设备，其特征在于：包括底座(1)和设置在所述底座(1)上的检测台(6)，所述检测台(6)上设置有夹持机构(5)，所述底座(1)上相邻检测台(6)设置有伸缩机构(2)，所述伸缩机构(2)沿垂直于底座(1)的方向上、下伸缩设置，所述伸缩机构(2)的端部阻尼铰接设置有支撑杆(3)，所述支撑杆(3)伸向检测台，所述支撑杆(3)的端部设置有高倍放大镜(4)，所述高倍放大镜(4)位于检测台(6)的上方；所述伸缩机构(2)的底部设置有滑动位移机构，所述伸缩机构(2)通过滑动位移机构向检测台(6)滑动位移设置。
所属类别：	实用新型